[实用新型]一种全自动三次光检机的光照系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及全自动三次光检机的光照系统，更准确地说，涉及视觉系统相机在对料条芯片金线抓拍检测时，由LED光源和反射镜产生的同轴光照射在料条上方，由背光源照射在料条的下方，使相机能清楚、准确抓拍到芯片金线的各种缺陷的一种全自动三次光检机的光照系统。

背景技术

对芯片上金线的检测是芯片生产过程中的第三次检测，与第三次检测有关的机器设备称为三次光检机。对料条上芯片的金线检测的主要内容是：金线弯曲检测；金线漏线检测；杂质检测；多余金线检测；短路检测；断路检测等六种内容，目前，完成金线这些内容的检测，主要靠人眼观察检测和人工与显微镜结合的检测。这种检测方法，不仅劳动强度大，工作效率低，检测的质量也因人而异，难于保证产品的检测质量。

也有人曾试图用相机获取芯片金线实况信息与计算机控制的标准金线模板相对比的方法实现金线的自动检测，但苦于没有找到一种能让相机清楚、准确获取金线各种缺陷的光照系统，检测的效率和质量与人工检测没有明显的优势。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决上述金线检测的难题，提供一种能使相机清楚、准确获取金线各种缺陷信息的光照系统。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种全自动三次光检机的光照系统，该系统包括相机和镜头A，同轴光发生器B，背光发生器D和竖直安装板E，其中，相机与镜头A与同轴光发生器均安装在竖直安装板E上，背光发生器D与同轴光发生器B间隔一段距离布置于同轴光发生器下方。

优选的是，光照系统光源相对料条工作距离可调：同轴光源距料条的工作距离为25～50mm；背光源距料条的工作距离为-50～0mm，其中0mm指料条底面。

优选的是，光照系统的背光面积能够覆盖料条上所有芯片。

优选的是，光照系统的光源使用常亮状态、关闭状态和触发状态交替。

优选的是，同轴光发生器B视同轴光与料条间距的需要，可在竖直安装板E上做上下调整。

优选的是，同轴光源工作距离可以为25～50mm；同轴光发生器B的结构包括一外壳704，外壳704中部设有漫反射板702，漫反射板的一侧的外壳上设有LED颗粒板701，另一侧倾斜设置半反半透镜703，LED颗粒板701通过电源线与外部电源相连，外壳底部对应半反半透镜的部分设有出光口。

优选的是，背光发生器D包括发光LED颗粒板711以及设置于其上的光源扩散片712。

该系统有以下有益效果：

1.光照系统光源由同轴光和背光源组成，料条放置于两个光源之间，相机在光照系统上方向下抓拍芯片信息。

2.光照系统光源相对料条工作距离可调：同轴光源距料条的工作距离为25～50mm；背光源距料条的工作距离为-50～0mm

3.背光源底部和上空比较空旷，散热性良好，延长了背光源的使用寿命。

4.光照系统的光源使用常亮状态、关闭状态和触发状态交替，延长了光源的使用寿命。

5.该光照系统对金线照射均匀，灰度值偏差小于30。对金线贴片区域和金线端点区域照射的对比度很好，银胶分离、金线端点区域分离、金线和杂质分离等的效果良好。

附图说明

图1a为光照系统组成侧视示意图

图1b为光照系统组成立体示意图

图2同轴光发生器的结构示意图

图3背光发生器结构示意图

图4光照系统的工作流程图

其中

A-相机和镜头  B-同轴光发生器  C-被测物(料条)  D-背光发生器  E-竖直安装板  701-发光LED颗粒板  702-漫反射板  703-半反半透镜  704-安装箱711-发光LED颗粒板  712-光源扩散片

具体实施方式

本实用新型中的光照系统的结构组成如图1a、1b所示主要由相机和镜头A，同轴光发生器B，被测物(料条上芯片)C，背光发生器D和竖直安装板E，其中，相机与镜头A与同轴光发生器均安装在竖直安装板E上，背光发生器D与同轴光发生器B间隔一段距离布置于同轴光发生器下方。使用时，被测物，即料条(芯片)C置于同轴光发生器B与背光发生器D之间。。