[实用新型]X射线探测器

权利要求书

1.X射线探测器，其特征在于：所述X射线探测器包括：闪烁屏以及光电转换单元(8)，所述闪烁屏包括能透过X射线的基板(1)、附着在基板上的高反射率的反射层(2)、附着在所述反射层(2)上用于保护将X射线转换为可见光的闪烁层(4)的阻隔层(3)以及充盈于闪烁层(4)中的防潮物(5)；所述闪烁层(4)和光电转换单元之间设有至少一组纵横垂直交错的棱镜膜(6、7)。

2.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述棱镜膜(6、7)下表面设有至少一层高透光率防反射膜(10)。

3.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述基板(1)材质为玻璃、碳纤维板、玻璃纤维板、有机物薄膜中的一种，其对X射线吸收小于5％，该基板厚度为0.2-3mm。

4.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述高反射率的反射层(2)材质为金属膜层；该层对可见光的反射率大于90％；该反射层厚度小于2微米。

5.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述阻隔层(3)为无机物膜层，其对可见光的透射率大于92％。

6.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述闪烁层(4)为GOS闪烁体或柱状结构的碘化铯晶体。

7.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述防潮物(5)为有机物薄膜，该层对可见光的透射率大于92％。

8.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述棱镜膜上棱镜的顶角角度θ为90度，平均间距I为50微米，棱镜膜底部的厚度T为5mil。

9.如权利要求2所述的X射线探测器，其特征在于：所述高透光率防反射膜(10)使用的膜料包括为Ta₂O₅、TiO₂、Ti₃O₅、ZrO₂、SiO₂或MgF₂膜。

10.如权利要求1所述的X射线探测器，其特征在于：所述棱镜膜和防潮物(5)之间、纵横垂直交错的棱镜膜之间、棱镜膜和光电转换单元(8)之间采用光学级的高透明的硅胶粘结。