[实用新型]一种激光测距综合实验仪

权利要求书

1.一种激光测距综合实验仪，其特征在于，包括半导体激光器（1），偏振分束器（2、5）、电光调制装置、平面镜（6）、光功率计（7）、双踪示波器（8）、主控单元（9）和光电倍增管（10）；其中，沿所述半导体激光器（1）输出的激光的方向依次设置第一偏振分束器（2）、电光调制装置、第二偏振分束器（5）、平面镜（6）；所述光功率计（7）相对第二偏振分束器（5）的侧面设置；所述光电倍增管（10）相对第一偏振分束器（2）的侧面设置；所述半导体激光器（1）、电光调制装置和光功率计（7）分别与所述主控单元（9）连接；所述双踪示波器（8）与光电倍增管（10）连接。

2.如权利要求1所述激光测距综合实验仪，其特征在于，所述半导体激光器（1）设置在调节支架上；所述调节支架实现对半导体激光器（1）的旋转及俯仰角度的调节。

3.如权利要求1所述激光测距综合实验仪，其特征在于，所述偏振分束器（2、5）设置在调节支架上；所述调节支架实现对偏振分束器（2、5）的旋转及俯仰角度的调节；所述偏振分束器（2、5）的轴线与所述激光平行，偏振分束器（2、5）的两端设置有轴向透光孔（2-1），偏振分束器（2、5）的侧面设置有侧向透光孔（2-8）。

4.如权利要求3所述激光测距综合实验仪，其特征在于，所述光功率计（7）正对第二偏振分束器（5）的侧面上的侧向透光孔（2-8）设置；所述光电倍增管（10）正对第一偏振分束器（2）的侧面上的侧向透光孔（2-8）设置。

5.如权利要求1所述激光测距综合实验仪，其特征在于，所述电光调制装置包括电光调制晶体（3）和一对电极片（4），所述一对电极片（4）设置在所述电光调制晶体（3）与所述激光平行的相对的两个表面上。

6.如权利要求1所述激光测距综合实验仪，其特征在于，所述主控单元（9）包括激光器电源（9-1）、调制信号发生器（9-2）、光功率计电路（9-3）和高压直流电源（9-4）；所述激光器电源(9-1)与半导体激光器（1）连接；所述光功率计电路(9-3)与光功率计(7) 连接；所述调制信号发生器（9-2）、高压直流电源(9-4)与电极片(4)连接。

7.如权利要求1所述激光测距综合实验仪，其特征在于，所述半导体激光器（1）、偏振分束器（2、5）、电光调制装置、光功率计（7）、主控单元（9）安装在实验箱内。

8.如权利要求6所述激光测距综合实验仪，其特征在于，所述双踪示波器（8）还可以与高压直流电源（9-4）连接，或与调制信号发生器（9-2）连接。