[实用新型]简易多用式调阻测试探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种激光微调用测试探针，具体是一种可有效调节三维空间自由度，并可反复使用的简易多用式调阻测试探针。

背景技术

近年来，激光微调技术在电子、汽配、航空、航天、科研等各个领域得到了快速的应用，在激光微调的过程中，电阻、电压、电流等电量参数的测量是决定最后微调精度的关键要素之一，其中测试探针的选型及焊接方式尤为重要，而它往往受测试探针自身结构形式的约束。目前普遍采用的为刀片式探针，其结构主要包括刚性连接的测量探针体和刀片基体；使用方法是先根据待刻电阻在待刻模块上的位置定位探针板，使其上开孔对应待刻模块区域；然后把一对对刀片式探针焊接到探针板上，确保测量探针体与测试模块的引线连通；最后测量探针体上的测试探针端头接触到待刻模块的两个测量端，从而实现待刻模块的测量。

这种探针结构方式存在以下缺点：

1、由于测量探针体与刀片基体刚性连接固定，缺少微动与缓冲，这样在移动待刻模块的过程中如果操作不当，常常导致脆弱的测试探针端头被碰坏；使得这类探针的寿命较短，厂家需要一定探针的库存量。

2、由于测试探针焊死在探针板上，无法相对活动；不能对其空间自由度进行调节；况且这样的探针板与其上的测试探针构成的体系往往只能与一种待刻模块精密对应；如果更换了待刻模块，由于其上电阻数量及纹路发生变化，还是只能采用重新焊接测试探针的探针板，极不方便。

3、由于2所述的现有测试探针的使用不便，这就导致在更换待刻模块的过程中，频繁的采用新的探针板需要消耗大量的测试探针，无疑提高了厂家成本。

发明内容

本实用新型目的是：提供一种磁性吸附于探针板上，可相对于探针板活动，使探针达到前后、左右、上下及水平角度方向上自由调节，以便于灵活反复使用的简易多用式调阻测试探针。

本实用新型的技术方案是：一种简易多用式调阻测试探针，包括测量探针体和基体；其特征在于一绝缘连接体一端与测量探针体连接，另一端与安装在基体上的微调部件的悬臂端连接，实现测量探针体与基体绝缘；基体底部嵌有强磁块。

同现有技术一样，所述测量探针体连接测试模块，保证测试探针的端头在接触待刻模块上的输出电极触点时能将信号传递给测试模块。至于测量探针体的具体形式可以是目前现有的结构，也可以采用本实用新型形式：测试探针、探针固定块、导线焊接片和两个导电螺钉组成；所述探针固定块上开有与导电螺钉等数的孔，孔内嵌入螺套，测试探针的尾端横穿螺套固定；导电螺钉贯穿依次相叠的导线焊接片、绝缘连接体和探针固定块与螺套配接。实际使用时，测试模块的引线焊接在导线焊接片上，并经导电螺钉同横穿螺套的测试探针连通实现信号的传递。这种针头结构简单且稳固耐用。

所述微调机构可以是现有的采用较多的弹簧压片，也可以采用本实用新型形式：弹簧片一端与压紧块由螺钉固定在基体上，另一端为悬臂端由连接螺钉连接到绝缘连接体；高度调节螺丝贯通压紧块并抵住弹簧片。这类高度微调机构结构简单且性能稳定。

探针板的材料均为铁质或类似导磁性金属，这样本实用新型可以通过基体底部镶嵌的强磁块吸附于探针板上。实际使用时，根据待刻模块上的电阻数量及位置，在探针板上吸附多对本探针便可实现测量。更换待刻模块时，只需在探针板上重新排布或简单的增减本探针即可。

本实用新型优点是：

1.由于本实用新型简易多用式调阻测试探针通过强磁块吸附在探针板上，故可以根据待刻电阻在待刻模块上的不同位置在探针板的前后、左右、上下及水平角度方向上自由改变，灵活排布；如果出现错误，也只需从探针板上取下测试探针，重新放置；故具有很高的空间自由度调节性能，且使用方便。

2.由于本实用新型简易多用式调阻测试探针能够反复灵活方便的使用，故生产厂家只需准备若干支本测试探针和一个探针板便能胜任多种不同的待刻模块的调阻、测试工作，极大的节约了成本。

3.由于本实用新型简易多用式调阻测试探针上设有微调部件，能对测试探针端头的高度进行自由微调，提供一定的垂直向缓冲距离，有效防止端头在待刻模块移动过程中被碰坏的情况发生，提高了测试探针的工作寿命。

附图说明

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

图1为本实用新型结构示意图。

图2为本实用新型的零件装配示意图。

图3为本实用新型的使用状态示意图。