[实用新型]一种极窄脉宽单脉冲激光光斑探测装置

说明书

技术领域

本实用新型属于脉冲激光光斑探测领域，具体涉及一种极窄脉宽单脉冲激光光斑探测的装置。

背景技术

激光光斑是分析激光器质量的一个重要参数。目前脉冲激光光斑探测方法一般有相纸曝光法和CCD/CMOS图像传感器法两种。相纸曝光法是采用相纸直接接收激光光斑，在相纸上形成一个反映激光光斑形状特征的烧蚀黑斑。这种方法需要经常更换相纸，且不利于对探测结果的后期精确分析。CCD/CMOS图像传感器法采用计算机配以图像采集卡，通过CCD电荷耦合器件或CMOS图像传感器实施连续采集或者可控的同步采集，探测结果直接生成数字图像存储于计算机中。该方法实时性强，易于对探测结果的后期精确分析，但它仅适应于对连续激光或者重复频率高的脉冲激光光斑的探测，对于纳秒级甚至更窄脉宽的单脉冲激光光斑却往往因CCD电荷耦合器件或CMOS图像传感器处于复位期而产生漏探测。

为了使用普通的CCD电荷耦合器件就能够探测窄脉冲激光的光斑，中国人民解放军总装备部军械技术研究所的陈志斌、李义照等人发明一种“低频窄脉冲激光光斑采集器”（公开号为101576373），其原理为将窄激光脉冲直接打到上转换板上，利用上转换材料的时间驰豫特性间接将窄的激光脉冲展宽，以保证CCD电荷耦合器件能够探测到。该方法对CCD电荷耦合器件的响应速度需求较低，一定程度上降低了设计、制造成本，但其测量到的激光光斑的质量和精度受上转换板材料的光谱响应范围以及分辨率限制较大。目前，对纳秒级甚至更窄脉宽的单脉冲激光光斑进行高质量、高精度的探测采集，尚无成熟的方法和装置。

发明内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供一种可靠有效、高质量、高精度地采集激光发射机发出的极窄脉宽单脉冲激光光斑的方法和装置。

本实用新型采用以下技术方案：一种极窄脉宽单脉冲激光光斑探测装置，其特征在于：该装置包括双CMOS光斑采集系统和连接其的控制处理存储系统。

所述双CMOS光斑采集系统包括：沿激光入射光路依次设置的可调光衰减器、透镜和镜形分光片，三者为中心同轴结构，镜形分光片分光后分为两束光路，在两束光路上以镜形分光片为轴对称地设有第一CMOS图像传感器和第二CMOS图像传感器。可调光衰减器对入射激光进行衰减；透镜对衰减的激光进行汇聚；镜形分光片将汇聚后的激光分成两束，分别辐射到在时序上交替工作的两个CMOS图像传感器上，两个CMOS图像传感器的积分时间相互交替，并在时序上稍有重叠，这样极窄脉宽的单脉冲激光在任何时刻到达均会被其中一个CMOS图像传感器或者两个同时探测到。第一CMOS图像传感器和第二CMOS图像传感器探测极窄脉宽的激光脉冲并将其转换为数字电子图像。

所述控制处理存储系统包括单片机、CPLD时序驱动器、SDRAM存储器、LCD显示屏、键盘和USB接口芯片，控制处理存储系统控制第一CMOS图像传感器和第二CMOS图像传感器进行交替工作，对采集到的数字图像进行存储、处理，控制LCD显示、响应键盘输入指令和与计算机进行数据通信。所述单片机为主控制器，控制两个CMOS图像传感器输出的图像数据的存储、读取和处理；CPLD时序驱动器产生两个CMOS图像传感器交替工作所需的时序驱动信号以及片选信号，驱动第一CMOS图像传感器和第二CMOS图像传感器交替工作；SDRAM存储器用于存储激光光斑的图像数据；LCD显示屏用于显示激光光斑图像；键盘用于接受外部命令，进行人机交互；USB接口芯片实现与计算机的通信，上传激光光斑图像数据。

    进一步的，所述可调光衰减器为九重滤波片组合，每3片滤波片由一个拨轮带动，一共有64个步进。每次增加约16%的衰减，衰减倍数从1:1 到400,000:1，可以根据激光发射机的具体的功率大小，确定合适的衰减倍率，选用不同的衰减片进行自由组合，将入射激光脉冲功率衰减到CMOS图像传感器的线性工作范围内。

进一步的，所述镜形分光片的透/光比为50%，其透光平面与激光入射光路呈45度角，形成两束独立的光路，而且两束光能正好射到第一CMOS图像传感器和第二CMOS图像传感器上。

进一步的，所述单片机内设有比对模块。单片机读取SDRAM存储器中数字电子图像的中心点数据进行比对，如果比对结果超过预设值，再在中心点附近取三个点进行比对，如果结果均超过预设值，即判定该帧图像为包含激光光斑信息的有效图像；如比对结果不超过预设值，单片机继续读取下一帧图像的中心点数据进行比对，直至比对结果超过预设值，判定出该有效图像帧。