[实用新型]一种键槽对称度检测装置有效

专利信息
申请号: 201120166761.6 申请日: 2011-05-24
公开(公告)号: CN202119379U 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 刘冀;潘汝厚 申请(专利权)人: 广州康迪克竞和机械制造有限公司
主分类号: G01B5/252 分类号: G01B5/252
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 谭英强
地址: 511495 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 键槽 对称 检测 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种检测装置,特别是涉及一种键槽对称度检测装置。

背景技术

键槽通过机加工完成后通常需要对轴两侧键槽的对称度进行检测,以往对于键槽对称度的检测一般包括三种方法。

方法之一为通过V型块模拟轴的轴线,通过塞块模拟键槽的中心线,两者对比得到对称度值,此种检测方法的原理浅显易懂,测量器具常见易用,并可模拟键的实际工作状态,但此种检测方法中需要调平塞块,使得检测及其不方便。

检测方法之二为通过平板与塞块的接触模拟键槽的中心线,通过百分表计算得到轴的轴线,然后将两者对比得到对称度值,此种检测方法可方便模拟键的实际工作状态,但此种检测方法的塞块与平板的接触不易完全接触,特别是对于直径较大的轴,由于重力原因导致重复测量误差较大。

第三种检测方法即为通过三坐标测量设备测量外圆得到轴的轴线,测量键槽得到键槽平面的中心线,然后通过计算机计算得到对称度值,此种检测方法可以对任意轴进行测量,但此检测方法测量键槽时不能判断高低点,导致表面粗糙度差的情况下重复性误差大,且此检测方法的检测设备昂贵,不利于在键槽的对称度检测中被推广应用。

实用新型内容

    为解决上述问题,本实用新型提供一种测量过程简单且利于调整的键槽对称度的检测装置,。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:

一种键槽对称度检测装置,包括检测架主体和若干检测块规,检测架主体的侧面设有导轨,检测架主体上在导轨所在一侧设有凹形检测处,凹形检测处的两侧分别设有用于固定检测块规的左定位装置和右定位装置,检测架主体上还设有可沿与导轨所在位置平行滑动的百分表。

进一步作为本实用新型技术方案的改进,检测架主体上设有可沿导轨滑动的滑块,与滑块固定联接分别设有百分表固定架和可调节滑块滑动的螺杆,检测架主体的一侧固定安装有与螺杆螺纹联接的螺纹块,螺杆伸出螺纹块的一端设有旋转手轮。

进一步作为本实用新型技术方案的改进,百分表固定架包括固定安装于滑块上并垂直于导轨的支撑杆,与支撑杆垂直设有表盘固定杆,表盘固定杆的一端设有表盘安装孔,表盘固定杆的另一端设有可嵌入支撑杆的联接孔,联接孔上设有用于紧固的紧固螺栓。

进一步作为本实用新型技术方案的改进,左定位装置和右定位装置分别包括定位块,定位块的上分别设有定位块孔,与检测架主体螺纹联接设有穿过所述定位块孔的定位螺杆。

进一步作为本实用新型技术方案的改进,检测架主体设有用于放置检测轴的滑板。

进一步作为本实用新型技术方案的改进,检测块规的厚度在大于待检测键槽宽度的+0.002~+0.012毫米的范围内,检测块规的宽度在小于待检测键槽长度的-2~-4毫米的范围内,检测块规的平面度为0.005,检测块规的平行度为0.002。

本实用新型的有益效果:此键槽对称度检测装置在检测过程中,分别通过左定位装置和右定位装置来固定检测块规,将检测块规嵌入对应的待检测键槽,并设置运动轨迹与导轨平行的百分表,通过百分表沿导轨滑动来分别测量待检测轴外径最高点时百分表的示数,通过两示数差来得到对称度偏差值,此检测装置及该装置的检测方法调节过程方便,且测量方法简单,节约检测成本的同时,给检测者工作带来了方便。

附图说明

下面结合附图对本实用新型作进一步说明:

图1是本实用新型实施例装置结构主视图;

图2是本实用新型实施例装置结构俯视图。

具体实施方式

参照图1、图2,本实用新型为一种键槽对称度检测装置,包括检测架主体1和若干检测块规2,检测架主体1的侧面设有导轨11,检测架主体1上在导轨11所在一侧设有凹形检测处12,凹形检测处12的两侧分别设有用于固定检测块规2的左定位装置3和右定位装置4,检测架主体1上还设有可沿与导轨11所在位置平行滑动的百分表5。

此键槽对称度检测装置在检测过程中,分别通过左定位装置3和右定位装置3来固定检测块规2,将检测块规2嵌入对应的待检测键槽,并设置运动轨迹与导轨11平行的百分表5,通过百分表5沿导轨11滑动来分别测量待检测轴外径最高点时百分表5的示数,通过两示数差来得到对称度偏差值,此检测装置及该装置的检测方法调节过程方便,且测量方法简单,节约检测成本的同时,给检测者工作带来了方便。

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