[实用新型]用于耐紫外测试装置中的试样架有效
| 申请号： | 201120135221.1 | 申请日： | 2011-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN202101922U | 公开（公告）日： | 2012-01-04 |
| 发明（设计）人： | 龚晓阳 | 申请（专利权）人： | 上海天祥质量技术服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人： | 罗大忱 |
| 地址： | 200122 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 紫外 测试 装置 中的 试样 | ||
【权利要求书】：
1.用于耐紫外测试装置中的试样架，其特征在于，包括：
两侧设有折边(101)的前端面(1)；
开设在前端面(1)上的通孔(2)；
嵌在前端面(1)的两侧折边(101)内的后端面(3)；
撑在两侧折边内的支撑条(4)。
2.根据权利要求1所述的用于耐紫外测试装置中的试样架，其特征在于，所述的支撑条(4)为N型，N型的支撑条的两条竖直端，分别撑在前端面(1)的两侧的折边(101)内。
3.根据权利要求1或2所述的用于耐紫外测试装置中的试样架，其特征在于，所述的通孔(2)为圆形、椭圆形、三角形或矩形。
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