[实用新型]一种集成电路有效
申请号: | 201120132827.X | 申请日: | 2011-04-29 |
公开(公告)号: | CN202083778U | 公开(公告)日: | 2011-12-21 |
发明(设计)人: | 李大伟;朱建彰;王强;王潘丰;邹丽娜 | 申请(专利权)人: | 京微雅格(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人: | 陈霁 |
地址: | 100473 北京市大兴区北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 | ||
技术领域
本实用新型涉及集成电路,具体地说涉及JTAG接口。
背景技术
JTAG(JointTestActionGroup;联合测试行动小组)接口是由IEEE标准所定义的一组接口,当前大部分的芯片都支持该协议用于芯片的测试,包括对芯片存储器的访问,对可配置电路进行配置等功能。JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port;测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。现在,JTAG接口还常用于实现ISP(In-System Programmable;在线编程),对闪存FLASH等器件进行编程。
在实际应用中,JTAG控制器遵循特定的标准,只要了解内部所用到的寄存器以及所使用的命令就可以完成整个芯片的操作,这对于芯片的保密有很大的威胁。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各个器件分别测试。
然而,当芯片内部实现的多个JTAG模块通过JTAG接口级联时,如果单纯的把某一个模块通过保密指示信号屏蔽掉,则会出现级联的其它模块无法再通过JTAG接口访问,如果把某一个模块通过保密指示信号绕开(bypass),则会导致级联的JTAG模块数目变动,这对芯片的验证以及外部控制器设计都增加了很大的难度。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供能够克服以上缺点的集成电路。
根据本实用新型的第一方面,提供一种集成电路。该集成电路包括通过JTAG接口级联的第一和第二JTAG控制电路,还包括虚拟JTAG控制电路、第一选择模块和第二选择模块,其中第一JTAG控制电路的TD0输出信号输入虚拟JTAG控制电路的TDI输入端和第一选择模块的第一 输入端;数值恒定的信号输入第一选择模块的第二输入端;第一选择模块的输出信号输入第二JTAG控制电路的TDI输入端;虚拟JTAG控制电路的TD0输出信号和第二JTAG控制电路的TD0输出信号分别输入第二选择模块的第二输入端和第一输入端,第二选择模块的输出信号作为共同的TD0输出信号;其中,第一选择模块和第二选择模块在有效的选择信号作用下分别选通其各自的第一输入端的信号,在无效的选择信号的作用下分别选通其各自的第二输入端的信号。
根据本实用新型的另一方面,提供一种集成电路。该集成电路包括通过JTAG接口级联的第一和第二JTAG控制电路,所述集成电路包括虚拟JTAG控制电路和选择电路,其中在选择信号有效时,选择电路选择虚拟JTAG,将其和第一JTAG控制电路级联,第二JTAG控制电路被绕开;在选择信号无效时,第一JTAG控制电路和第二JTAG控制电路级联。
附图说明
下面将参照附图对本实用新型进行更详细的说明,其中:
图1是根据本实用新型实施例的包含JTAG链的集成电路的示意图。
具体实施方式
图1是根据本实用新型实施例的包含JTAG链的集成电路的示意图。如图1所示,集成电路包括两个真实的JTAG控制电路,JTAG模块D1和D2。左侧的四根信号线是JTAG协议所规定的信号,分别是时钟输入信号TCK、模式选择信号TMS、测试数据输入TDI和测试数据输出TD0。JTAG模块D1和D2通过JTAG接口串联。具体地说,来自外部的时钟输入信号TCK和模式选择信号TMS分别输入JTAG模块D1和D2的各自输入端,即TCK和TMS输入端。来自外部的数据输入信号TDI输入JTAG模块D1的TDI输入端,而JTAG模块D1的输出端则耦合到JTAG模块D2的输入端TDI。
根据本实用新型,集成电路还包括一个虚拟的JTAG模块V。模块V是利用JTAG协议进行虚拟的一个简化JTAG控制电路,可以利用硬件实现。模块V可以完成最基本的JTAG功能,所占用的面积很小,不会影响整个芯片的布局规划。
在JTAG模块D1的TD0输出端和JTAG模块D2的输入端TDI的耦合 中,引入了一个多路选择器10。多路选择器10的输入端之一连接至JTAG模块D1的TD0输出端,其另一个输入端则输入固定信号。在一个例子中,该固定信号是二进制的且取值1。多路选择器10的输出端连接至JTAG模块D2的TDI输入端。多路选择器10的控制位prot_flagn是保密指示位,可以来自于内部非易失存储器,可以是芯片的输入,也可以是内部的其他保密控制电路来产生。
JTAG模块D1的TD0输出端还耦合到虚拟JTAG模块V的TDI输入端。
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