[实用新型]一种动态试验卡

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于动态电液伺服动静万能试验机上的试验卡。

背景技术

动态电液伺服动静万能试验机，既能进行动态的低周疲劳试验、程序控制疲劳试验，也能进行静态的恒速率、恒应变、恒应力控制下的试验和各种常规的力学性能试验，因此有着其它种类的试验机所不能比拟的优势，是国际材料性能试验最推崇的材料试验设备。可广泛应用于航天、航空、舰船、车辆、军工、工程机械等行业。

目前国内、外的动静万能试验机的机械结构基本定型，研制的主要技术难度集中在测控系统上。国内试验机厂商主要采用模拟信号来控制试验机，产品性能与国外公司有较大的差距，试验机生产厂商不惜成本采购国外(如美国MTS)的测控系统；此外，现有的测控系统主要采用控制箱式结构，系统布线较多，维修不便。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题就是提供一种动态试验卡，可直接插接于微机上，通过简单布线连接到试验机，即可实现微机自动测量与控制。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种动态试验卡，其特征在于：包括带有金手指的板卡，所述板卡板面上依次电连接有DSP微处理模块、双口RAM存储器及PCI总线桥，所述板卡边沿设有若干连接试验机用的信号接口，所述DSP微处理模块上连接有用于存储试验机控制参数的EEPROM存储器；DSP微处理模块与所述的若干信号接口电连接，PCI总线桥与金手指电连接；所述板卡板面上还设有与DSP微处理模块、双口RAM存储器、PCI总线桥分别电连接的时序控制模块。

进一步的，所述若干信号接口包括有用于接收力模拟信号的第一信号接口、用于接收变形模拟信号的第二信号接口、用于接收位移模拟信号的第三信号接口；所述第一信号接口、第二信号接口及第三信号接口各自通过独立的A/D转换电路连接DSP微处理模块。

进一步在，连接第一信号接口与DSP微处理模块以及连接第二信号接口与DSP微处理模块的两路A/D转换电路中均设有精密放大器。

进一步的，所述第三信号接口为集成接口，包括有与DSP微处理模块通过A/D转换电路连接的位移模拟信号接口、与DSP微处理模块连接的位移数字信号接口、与DSP微处理模块连通过D/A转换电路连接的D/A转换接口、与DSP微处理模块连接的数字信号输出接口与数字信号输入接口。

进一步的，所述DSP微处理模块上还连接有外扩RAM存储器。在设备运行时将DSP微处理模块中的程序拷贝到外扩RAM存储器中运行，提高程序运行效率，还可用于DSP微处理模块内部任务数据的缓存。

进一步的，所述时序控制模块为FPGA可编程门阵列。

本实用新型的有益效果：

1、本实用新型结将测量放大、AD转换、计算控制等功能集中在一块印制电路板上，取消了现有控制箱式试验机控制器所需要的电源、键盘接口、数码显示等器件，相关连线也一并取消，使系统简洁可靠；

2、本实用新型具备良好的智能化特性，DSP可以自治实现试验机的高速测控功能，也可响应来自微机的命令，EEPROM可记录测控系统相关参数，试验通过双口RAM和PCI芯片能与微机进行高速通讯。

附图说明

下面结合附图对本实用新型做进一步的说明：

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

参照图1，一种动态试验卡，包括带有金手指13的板卡1，所述板卡1板面上依次电连接有DSP微处理模块2、双口RAM存储器3及PCI总线桥4，所述板卡1边沿设有用于接收力模拟信号的第一信号接口10、用于接收变形模拟信号的第二信号接口11、用于接收位移模拟信号的第三信号接口12；所述第一信号接口10、第二信号接口11及第三信号接口12各自通过独立的A/D转换电路6连接DSP微处理模块2；连接第一信号接口10与DSP微处理模块2以及连接第二信号接口11与DSP微处理模块2的两路A/D转换电路中均设有精密放大器61，由精密放大器61将力模拟信号与变形模拟信号放大再进行A/D转换；DSP微处理模块2上连接有用于存储试验机控制参数的EEPROM存储器21；PCI总线桥4与金手指13电连接；所述板卡1板面上还设有与DSP微处理模块2、双口RAM存储器3、PCI总线桥4分别电连接的时序控制模块5。