[实用新型]光发射组件测试工装及其应用电路

权利要求书

1.光发射组件测试工装，其特征在于，包括外部信号接口单元、微处理器单元、射频信号输入接口单元、光发射组件驱动单元、光发射组件匹配单元、测试口与供电单元；

所述测试口具有调制电流输出接口、偏置电流输出接口、被测试光发射组件供电接口与反映光功率大小的信号接收接口；

所述供电单元具有三个电压输出端，所述三个电压输出端依次与微处理器单元的电源输入端、光发射组件驱动单元的电源输入端、测试口的被测试光发射组件供电接口连接；

所述微处理器单元与外部信号接口单元有信号线路连接；微处理器单元还具有反映光功率大小的信号接收端、偏置电压信号输出端、偏置电流监测信号输入端、调制电流控制信号输出端；所述反映光功率大小的信号接收端与测试口的反映光功率大小的信号接收接口连接；

所述光发射组件驱动单元具有射频信号输入端、偏置电压信号输入端、偏置电流监测信号输出端、调制电流控制信号输入端、调制电流输出端、偏置电流输出端；所述射频信号输入端通过射频信号输入接口单元接收外部输入的差动射频信号；所述偏置电压信号输入端与微处理器单元的偏置电压信号输出端连接；所述偏置电流监测信号输出端与微处理器单元的偏置电流监测信号输入端连接；所述偏置电流输出端与测试口的偏置电流输出接口连接；所述调制电流控制信号输入端与微处理器单元的调制电流控制信号输出端连接；所述调制电流输出端通过光发射组件匹配单元与测试口的调制电流输出接口连接。

2.根据权利要求1所述的光发射组件测试工装，其特征在于，所述光发射组件驱动单元具有自动关断信号输入端；微处理器单元的一个通用IO口引脚与所述自动关断信号输入端连接。

3.根据权利要求1所述的光发射组件测试工装，其特征在于，所述供电单元包括整板电源与3个相互独立的第一供电子单元、第二供电子单元以及第三供电子单元；所述3个供电子单元的电源输入端均与整版电源连接；所述第一供电子单元输出端与微处理器单元电源输出端连接；所述第二供电子单元输出端与光发射组件驱动单元电源输入端；所述第三供电子单元输出端与测试口的被测试光发射组件供电接口连接。

4.根据权利要求3所述的光发射组件测试工装，其特征在于，微处理器单元具有电压AD采样端，所述电压AD采样端采集第三供电子单元输出电压。

5.根据权利要求3所述的光发射组件测试工装，其特征在于，还包括电压复位单元，电压复位单元具有电压检测端与复位信号输出端；所述电压检测端与所述的整板电源连接；所述复位信号输出端与微处理器单元的复位端连接。

6.根据权利要求1或3所述的光发射组件测试工装，其特征在于，所述外部信号接口单元包括USB接口单元与数据通讯单元；所述USB接口单元与数据通讯单元有信号连接；所述数据通讯单元与微处理器单元有信号连接。

7.根据权利要求1所述的光发射组件测试工装，其特征在于，所述光发射组件匹配单元包括4组电阻电容串联电路与2组阻抗匹配传输线；

所述第一电阻电容串联电路与第二电阻电容串联电路分别接于第一阻抗匹配传输线的两端；第一电阻电容串联电路与第二电阻电容串联电路的另一端均接地；第一阻抗匹配传输线与第一电阻电容串联电路的连接点与调制电流正相输出端连接；第一阻抗匹配传输线与第二电阻电容串联电路的连接点接至测试口；

所述第三电阻电容串联电路与第四电阻电容串联电路分别接于第二阻抗匹配传输线的两端；第三电阻电容串联电路与第四电阻电容串联电路的另一端均接地；第二阻抗匹配传输线与第三电阻电容串联电路的连接点与调制电流反相输出端连接；第二阻抗匹配传输线与第四电阻电容串联电路的连接点接至测试口。

8.根据权利要求7所述的光发射组件测试工装，其特征在于，所述阻抗匹配传输线阻抗大小为25欧姆。

9.基于权利要求1~8任意一项所述的光发射组件测试工装的应用电路，包括测试仪器、信号发生器、被测试光发射组件，所述测试仪器与被测试光发射组件连接，用于测试被测试光发射组件的消光比、光功率与眼图；其特征在于，还包括数据采集分析存储单元、光发射组件测试工装；

所述数据采集分析存储单元与信号发生器有信号连接；数据采集分析存储单元还与测试仪器有信号连接；

所述数据采集分析存储单元与所述的光发射组件测试工装通过USB接口通信；

所述信号发生器的射频信号输出端与光发射组件测试工装的射频信号输入接口单元连接；

所述光发射组件测试工装的测试口与被测试光发射组件连接。