[实用新型]皮革弹性形变量测量装置无效
申请号: | 201120100419.6 | 申请日: | 2011-04-08 |
公开(公告)号: | CN202041180U | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 王晓霞;吴春英;王卫林 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/16 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 刘国智 |
地址: | 710021 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 皮革 弹性 形变 测量 装置 | ||
技术领域
本发明属于FBG传感器应用领域,涉及对皮革弹性度的测量,具体涉及皮革弹性形变量测量装置。
背景技术
一般评价皮革感官特性参数是沿用皮革检测人员感官检验方法,用人手触摸、拉伸等,其评定结果用语言、文字或者图表表达,既没有统一的标准又缺乏规范的词汇,难以进行相互交流,或者采用电学传感器实现单参数测量,从国外传感发展研究上看,FBG传感器在皮革行业中还没被研究和利用,研究和设计多参数同时测量还很少被研究和应用。
发明内容
为了克服上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种皮革弹性形变量测量装置,能够实现皮革弹性测量中温度、拉伸力及皮革纤维受力变形长度变化量三类参数被同时测量,测量全面,性能稳定,同时具有可扩展性。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
皮革弹性形变量测量装置,包括两个皮革夹持装置4,在任一个皮革夹持装置4上设置有第一FBG传感器1,在待测皮革3上设置有第二FBG传感器2,第一FBG传感器1的信号经第一1*2耦合器5后输入到第一位相干涉仪6,第一位相干涉仪6的输出连接第一光检出器7的输入,第二FBG传感器2的信号经第二1*2耦合器8后输入到第二位相干涉仪9,第二位相干涉仪9的输出连接第二光检出器10的输入,第一光检出器7和第二光检出器10的输出都连接到处理器的输入。
本发明与现有技术相比,具有以下优点:实现皮革弹性测量中温度变化、温度变化引起的皮革纤维受力变形长度变化量和拉伸力引起的皮革纤维受力变形长度变化量三个参数被同时测量;减少了测量误差和设备成本;性能稳定;具备可扩展性,可实现多点、多参数实时测量。
附图说明
图1是传感系统测量结构示意图。
图2是传感单元设置位置示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步详细说明。
如附图所示,本发明为皮革弹性形变量测量装置,包括两个皮革夹持装置4,在任一个皮革夹持装置4上设置有第一FBG传感器1,在待测皮革3上设置有第二FBG传感器2,第一FBG传感器1的信号经第一1*2耦合器5后输入到第一位相干涉仪6,第一位相干涉仪6的输出连接第一光检出器7的输入,第二FBG传感器2的信号经第二1*2耦合器8后输入到第二位相干涉仪9,第二位相干涉仪9的输出连接第二光检出器10的输入,第一光检出器7和第二光检出器10的输出都连接到处理器的输入。
使用的时候,按照以下步骤进行:
第一步,用两个夹子把待测皮革样品两端固定好,其中一个夹子上设置第一FBG传感器1,在皮革样品上沿其发生形变方向设置第二FBG传感器2;
第二步,调整温度的变化量为ΔT,利用第一FBG传感器1,根据公式Δλ1=λ×(α+ξ)ΔT得出因温度变化ΔT而引起的光纤波长变化Δλ1,其中,α为光纤的热膨胀系数,ξ为光纤的热光系数,n为有效折射系数,λ为温度变化前的光纤波长;
第三步,利用第二FBG传感器2,根据公式得到由于温度变化引起皮革形变进而引起的应变Δε,又因为进而求出皮革发生长度改变量ΔL1,其中L0为皮革原有长度,λ为温度变化前的光纤波长,n为有效折射系数,P11和P12为弹光张量分量,υ为光纤材料的泊松比,Δλ2为第二FBG传感器2上读出的光纤波长变化;
第四步,不再调整温度变化,向皮革样品两边拉伸两个夹子,根据公式得到由于拉力引起的2波长变化量,进而求出施加在皮革上的拉力ΔF,又因为最终可求出由于拉力ΔF引起皮革长度发生形变量ΔL,其中,λ为温度变化前的光纤波长,n为有效折射系数,P11和P12为弹光张量分量,υ为光纤材料的泊松比,E为皮革弹性模量,A0为皮革单位受力面积,Δλ2′为第二FBG传感器2上读出的光纤波长变化,Δλ1′为第一FBG传感器1上读出的光纤波长变化。
所述的光纤波长变化Δλ1、Δλ2、Δλ2′和Δλ1′通过位相干涉仪识别求出,位相干涉仪输出的光信号通过光检出器转换为电信号并输入到处理器设备中进行运算。根据需要,第二FBG传感器2的数量可以增添,测量待测皮革上多点参数,使得测量结果更加精确。
图中:1是第一FBG传感器;2是第二FBG传感器;3是待测皮革;4是皮革夹持装置;5是第一1*2耦合器;6是第一位相干涉仪;7是第一光检出器;8是第二1*2耦合器;9是第二位相干涉仪;10是第二光检出器。
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