[实用新型]四探针测试仪外箱有效
| 申请号: | 201120067035.9 | 申请日: | 2011-03-10 |
| 公开(公告)号: | CN202025022U | 公开(公告)日: | 2011-11-02 |
| 发明(设计)人: | 吴艳芬;陈筑;刘晓巍;林功辉;余涛;詹国平 | 申请(专利权)人: | 宁波尤利卡太阳能科技发展有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R27/02 |
| 代理公司: | 宁波市鄞州甬致专利代理事务所 33228 | 代理人: | 李迎春 |
| 地址: | 315177 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 探针 测试仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及光伏生产技术设备领域,具体涉及一种四探针测试仪的外箱。
背景技术
在光伏行业生产中,一般通过检测硅片的方块电阻值来判断扩散工序是否合格,测试方块电阻值的仪器是四探针测试仪。而四探针测试仪需要在黑暗的环境中才能进行测试工作,目前一般将其置于暗室中后再进行对硅片方块电阻值的测定。暗室的建造既增加了建筑成本,同时也容易形成管理“盲区”。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是针对以上现有技术的不足,提供一种制造简单、成本低、实用、可代替暗室提供黑暗测试环境的四探针测试仪外箱。
为解决上述问题,本实用新型提供一种四探针测试仪外箱,包括导磁材料套筒、导磁材料盖板和磁性材料固定件,其中固定件由磁性材料制成,它对由导磁材料制成的套筒和盖板具有磁吸作用,所以通过固定件可以将套筒和盖板之间进行连接。盖板上有一圆孔,圆孔的直径d等于四探针测试仪探头的外筒直径。
所述套筒为圆筒状,内径为350mm~440mm,高度为100~150mm。
所述盖板由大圆环、小圆环、及连接大圆环和小圆环的中心圆筒组成,盖板的外径等于套筒的内径,盖板的内径即小圆环的内径也即上述盖板上圆孔的直径d,中心圆筒的外径为20mm~100mm,高度为40mm~80mm。
所述四探针测试仪外箱还包括调节螺钉,调节螺钉穿过中心圆筒而对四探针测试仪探头进行紧固。
所述固定件为至少两个,优选为两个。
所述调节螺钉为至少两枚,优选为两枚。
采用以上结构后,本实用新型与现有技术相比,具有以下优点:四探针测试仪外箱包括导磁材料套筒、导磁材料盖板和磁性材料固定件,固定件利用其磁吸作用与导磁材料的套筒和盖板紧紧相连并将两者的位置进行固定,这样四探针测试仪的外箱就制作成了,制造非常简单和方便。套筒、盖板为导磁材料,固定件为普通磁性材料,所以相对于建造暗室而言,此四探针测试仪外箱的成本相当低。将外箱组装后,箱子密封性良好,整个外箱内部不透光,为黑暗环境,就可代替暗室进行测试工作了,非常实用。另外,由于套筒和盖板是靠磁性材料固定件进行吸引和固定的,所以可根据内部硅片及四探针测试仪探头的需求随时调节盖板的高度,操作非常简单,适用于对不同厚度硅片的测试。
附图说明
图1所示的是本实用新型四探针测试仪外箱的剖面示意图;
图2所示的是本实用新型四探针测试仪外箱的俯视图;
图3所示的是本实用新型四探针测试仪外箱使用时的剖面示意图。
其中:1、套筒;2、盖板;2-1、大圆坏;2-2、小圆环;2-3、中心圆筒;3、固定件;4、四探针测试仪探头;5、调节螺钉;6、硅片;7、测试台面。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型实施例作进一步详述。
如图所示,本实用新型四探针测试仪外箱由导磁材料套筒1、导磁材料盖板2、磁性材料固定件3和调节螺钉5组成,套筒1和盖板2之间通过固定件3进行连接。套筒1和盖板2均为不锈钢材质,当然除了不锈钢材质以外,也可以是铁或铁镍合金或其他导磁材质。固定件3由磁铁制作而成,当然除了磁铁外也可以是其他磁性材料。
套筒1为圆筒状,内径为440mm,高度为120mm。
盖板2由大圆环2-1、小圆环2-2、及连接大圆环2-1和小圆环2-2的中心圆筒2-3组成,盖板2的外径即大圆环2-1的外径等于套筒1的内径,盖板2的内径即小圆环2-2的内径等于四探针测试仪探头4的外筒直径。中心圆筒2-3的外径为50mm,高度为80mm。
固定件3为两个,相对设置。
调节螺钉5穿过中心圆筒而对四探针测试仪探头4进行紧固。调节螺钉5为两枚,相对设置,将调节螺钉5穿过盖板2的中心圆筒2-3上的预留孔,然后继续往里面旋转直至碰触到四探针测试仪探头4,相对的两枚调节螺钉5一起旋紧就可以将四探针测试仪探头4固定住了。
利用该四探针测试仪外箱进行硅片方块电阻值测定的过程如下:将硅片6放置于测试台面7,用套筒1、盖板2、固定件3组装成的外箱盖住硅片6,然后将四探针测试仪探头4穿过盖板2上小圆环2-2的内环,当四探针测试仪探头4的探针小心碰触到硅片6后,将调节螺钉5从中心圆筒2-3的预留孔穿入,并小心旋紧将四探针测试仪探头4固定住,这样就为四探针测试仪提供了一个黑暗的测试环境,可以进行硅片方块电阻值的测定工作了。
以上实施例是对本实用新型的说明和进一步解释,而不是对本实用新型的限制,在本实用新型的权利范围内所作的任何修改,都落入本实用新型的保护范围。
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