[发明专利]一种线圈测试装置及方法无效
| 申请号： | 201110461275.1 | 申请日： | 2011-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103176061A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 郑益吉 | 申请（专利权）人： | 台达电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/20 | 分类号： | G01R29/20 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾桃*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 线圈 测试 装置 方法 | ||
1.一种线圈测试装置，其特征在于，包含：
一固定单元，用以固定一待测线圈；
一金属治具，配置固定于该固定单元上，该金属治具穿越该待测线圈，用以感应该待测线圈上的一参考信号；以及
一参考线圈，配置固定于该固定单元上，且该参考线圈被该金属治具穿越，用以将该金属治具所感应的该待测线圈上的该参考信号转换为一输出信号。
2.根据权利要求1所述的线圈测试装置，其特征在于，该固定单元是用以将该待测线圈、该金属治具与该参考线圈固定，使得该金属治具穿越该待测线圈与该参考线圈的中间镂空部分。
3.根据权利要求1所述的线圈测试装置，其特征在于，该参考线圈与该待测线圈的匝数比是用以决定该输出信号与该参考信号的比值。
4.根据权利要求1所述的线圈测试装置，其特征在于，该参考线圈与该金属治具的匝数比是依据接收该输出信号的一测试仪器的测量精准度而作调整。
5.根据权利要求1所述的线圈测试装置，其特征在于，该金属治具为金属柱体或金属导线。
6.一种线圈测试方法，其特征在于，包含：
提供一参考信号给一待测线圈；
通过一金属治具与该待测线圈之间的磁场耦合，以感应该待测线圈的该参考信号；以及
通过一参考线圈与该金属治具之间的磁场耦合，以转换该金属治具所感应的该待测线圈的该参考信号为一输出信号。
7.根据权利要求6所述的线圈测试方法，其特征在于，还包含：
固定该待测线圈、该金属治具与该参考线圈中至少一者，使得该金属治具穿越该待测线圈与该参考线圈的中间镂空部分，以稳定磁场耦合所感应的信号。
8.根据权利要求6所述的线圈测试方法，其特征在于，该输出信号与该参考信号之间的比值是通过该参考线圈与该待测线圈之间的匝数比所决定。
9.根据权利要求6所述的线圈测试方法，其特征在于，还包含：
通过一测试仪器测量该输出信号，以显示该待测线圈匝数相对应的该输出信号读值。
10.根据权利要求6所述的线圈测试方法，其特征在于，还包含：
通过该参考线圈与该金属治具的匝数比选择，以调整该输出信号的输出范围，并符合一测试仪器的测量精准度。
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