[发明专利]基于激光多普勒干涉的语音检测系统有效
申请号: | 201110459324.8 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN102543065A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 曾华林;周燕;何军;李丽艳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G10L11/00 | 分类号: | G10L11/00;G01D5/26 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 激光 多普勒 干涉 语音 检测 系统 | ||
1.一种语音检测系统,其特征在于,包括:
激光器,用于产生激光;
M_Z干涉模块,包括分光单元、信号光光路、参考光光路和干涉单元,其中:
分光单元,用于将所述激光分为信号光和参考光;
信号光光路,位于所述信号光的光路后端,用于利用由语音引起的待测目标的振动信号调制所述信号光;
参考光光路,位于所述参考光的光路后端,用于利用由两个独立的声光调制驱动信号驱动的声光介质周期性形变调制所述参考光;
干涉单元,位于所述参考光光路和信号光光路共同的光路后端,用于使经过待测目标振动调制的信号光与经过声光介质调制的参考光进行干涉,产生干涉光信号;
接收模块,用于将所述干涉光信号转换为相应的光电信号,并将该光电信号进行放大和模数转换;
解调模块,用于利用所述声光调制驱动信号对所述模数转换后的光电数字信号进行解调,还原出所述语音。
2.根据权利要求1所述的语音检测系统,其特征在于,所述参考光光路包括:
全反射镜,位于所述分光单元参考光的光路后端,用于将所述参考光全反射至所述第一声光调制器;
第一声光调制器,位于所述全反射镜的光路后端,用于对所述参考光进行第一次声光调制;
第二声光调制器,位于所述第一声光调制器的光路后端,用于对所述参考光进行第二次声光调制,所述第一次声光调制和第二次声光调制的符号相反。
3.根据权利要求2所述的语音检测系统,其特征在于,由所述分光单元分开的信号光和参考光相互成90°;所述全反射镜与所述参考光成45°;所述第一声光调制器和第二声光调制器平行。
4.根据权利要求2所述的语音检测系统,其特征在于,
所述参考光的原始频率为f0;
经过全反镜进入第一声光调制器进行移频,频移为f1,此时出射的光频为f0-f1;
经过频移后的激光进入第二声光调制器进行频移,频移为-f2,此时出射的光频为f0+f2-f1。
5.根据权利要求4所述的语音检测系统,其特征在于,
所述激光器为半导体激光器,其工作波长为1550nm;
所述第一声光调制器所产生的移频为40MHz,所述第二声光调制器所产生的移频为-39.8MHz。
6.根据权利要求1所述的语音检测系统,其特征在于,所述信号光光路包括:
分光棱镜,位于所述分光单元信号光的光路后端,信号光透过所述分光棱镜照射到待测目标后,由待测目标的振动对信号光进行调制后,重新返回分光棱镜,并由所述分光棱镜将其反射至所述干涉单元。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的语音检测系统,其特征在于,所述待测物为玻璃或铝板。
8.根据权利要求1至6中任一项所述的语音检测系统,其特征在于,所述接收模块包括:
光电探测器,位于所述干涉单元的光路后端,用于将所述干涉光信号转化为相应的光电信号;
信号处理电路,与所述光电探测器相连接,用于将所述光电信号进行放大,并将放大后的光电信号进行模数转换,获得光电数字信号。
9.根据权利要求1至6中任一项所述的语音检测系统,其特征在于,
所述解调模块,用于利用频率调制解调技术、相位调制解调技术或锁相解调技术对所述光电信号进行解调,还原出所述语音。
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