[发明专利]一种太阳能电池组件PID的测试方法无效
| 申请号: | 201110456148.2 | 申请日: | 2011-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN102565658A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
| 发明(设计)人: | 柳国伟;徐德生;张宝华 | 申请(专利权)人: | 上海晶澳太阳能科技有限公司;合肥晶澳太阳能科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 广州知友专利商标代理有限公司 44104 | 代理人: | 李海波;侯莉 |
| 地址: | 201401 上海市奉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 太阳能电池 组件 pid 测试 方法 | ||
1.一种太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于包括以下步骤:
(1)测试并记录被测太阳能电池组件的初始数据;
(2)将被测太阳能电池组件安装在高低温实验环境箱内且二者之间做绝缘处理;
(3)将被测太阳能电池组件正负极短接后与高压加载设备的负极连接,太阳能电池组件的边框与高压加载设备的正极连接;
(4)启动高低温实验环境箱,开启高压加载设备并调试其输出电压值为600~1000V,同时开启电流监控仪进行漏电监控;
(5)持续设定时间,关闭高压加载设备及高低温实验环境箱,待被测太阳能电池组件的温度下降至室温后将其取出;
(6)测试并记录被测太阳能电池组件的最终数据;
(7)对比被测太阳能电池组件的初始数据与最终数据,评价功率衰减;
(8)测试完毕。
2.根据权利要求1所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:所述初始数据包括电性能参数、EL缺陷参数及湿漏电参数,所述参数分别由电性能测试仪、EL缺陷测试仪及湿漏电测试仪测试得到。
3.根据权利要求2所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:所述电性能测试仪具有3A级灯光源,所述EL缺陷测试仪具有1200万像素的照相装置。
4.根据权利要求3所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:在所述步骤(2)中,绝缘处理是将被测太阳能电池组件安装在测试架中之前,在被测太阳能电池组件的边框上加装绝缘护套。
5.根据权利要求4所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:在进行所述步骤(2)之前,采用导电材料包覆在太阳能电池组件的边框上。
6.根据权利要求5所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:所述导电材料的电阻值小于1欧姆。
7.根据权利要求6所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:所述导电材料采用铜箔或者铝箔。
8.根据权利要求7所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:在所述步骤(5)中,设定时间为20小时,完成步骤(6)后,重复步骤(5)、(6)直至设定时间总和为100小时。
9.根据权利要求7所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:在所述步骤(5)中,设定时间为100小时。
10.根据权利要求8或9所述的太阳能电池组件PID的测试方法,其特征在于:所述高低温实验环境箱内的温度为0~90℃,湿度为0~97%。
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