[发明专利]硬盘测试方法和装置无效

专利信息
申请号: 201110455927.0 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN102521092A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 赵雷 申请(专利权)人: 曙光信息产业股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;房岭梅
地址: 300384 天津市西青区华*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 硬盘 测试 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及计算机领域,并且特别地,涉及一种硬盘测试方法和装置。

背景技术

目前,已经提出了一些硬盘测试技术,这些技术也在随着硬盘密度和转速的提高而不断发展。

虽然已有的硬盘测试技术已经有很多种,但是,每种测试技术所执行的测试功能并不相同,如何组合这些测试技术,从而全面、完整地测试硬盘的性能、并且省略不必要的测试步骤,目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中所提出的问题,本发明提出一种硬盘测试方法和装置,能够对硬盘进行全面的测试,并且不会增加不必要的测试过程。

本发明的技术方案是这样实现的:

根据本发明的一个方面,提供了一种硬盘测试方法。

该方法包括:读取硬盘的第一预定参数信息;对被测的硬盘进行系统安装策测试,测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能;根据预定策略,测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能;针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试;测试硬盘在预定工作负载下的工作性能;读取硬盘的第二预定参数信息,并将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较,其中,第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。

其中,在进行系统安装测试之前,该方法进一步包括:记录硬盘的信息,记录的信息包括以下至少之一:硬盘厂商、硬盘型号、容量、固件版本、接口、机械尺寸。

此外,在进行系统安装测试之前,该方法进一步包括:记录测试平台信息,其中,测试平台信息包括以下至少之一:硬盘控制器厂商、型号、硬盘控制器BIOS、固件版本、操作系统下驱动版本,主板厂商、主板型号、PCB版本、CPU型号、内存型号、电源型号、网卡型号、主板芯片组驱动、网卡驱动和VGA驱动。

其中,在记录测试平台信息之后,该方法进一步包括:对硬盘进行外观检测,包括对硬盘的盘体部分、PCB部分和连接器部分进行检查。

此外,测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能包括以下至少之一:通过IOMeter对硬盘进行测试;通过HD Tach对硬盘进行测试;通过HD Tune对硬盘进行测试;通过ATTO Disk Benchmark对硬盘进行测试;通过Crystal Disk Benchmark对硬盘进行测试;通过Bonnie++对硬盘进行测试;通过DD命令对硬盘进行测试。

此外,测试硬盘在预定工作负载下的工作性能包括以下处理中的至少之一:控制硬盘进行数据拷贝、和/或数据压缩/解压缩,对经过拷贝、和/或压缩/解压缩后的数据进行验证;遍历多种大小的块和以及多种读写模式,以循环的方式对硬盘进行IO zone测试。

并且,测试硬盘在预定工作负载下的工作性能进一步包括以下处理中的至少之一:对硬盘进行持续性数据写入压力测试;对硬盘进行多次重启,测试硬盘的上/下电时序、硬盘自检功能、以及硬盘与控制器的兼容性。

此外,测试硬盘在预定工作负载下的工作性能进一步包括:将硬盘置于预定温度的工作环境中,对硬盘的老化测试。

可选地,第一预定参数信息和第二预定参数信息为自我监测、分析及报告技术SMART参数信息。

根据本发明的另一方面,提供了一种硬盘测试装置。

该装置包括:第一读取模块,用于读取硬盘的第一预定参数信息;第一测试模块,用于对被测的硬盘进行系统安装策测试,以测试硬盘是否能够在多种控制器和多种工作模式下实现系统安装功能;第二测试模块,用于根据预定策略,测试硬盘在多种控制器和多种工作模式下的工作性能;第三测试模块,用于针对多种控制器和多种操作系统对硬盘进行热插拔测试;第四测试模块,用于测试硬盘在预定工作负载下的工作性能;第二读取模块,用于读取硬盘的第二预定参数信息;比较模块,用于将第二预定参数信息与第一预定参数信息进行比较,其中,第一预定参数信息和第二预定参数信息对应相同类型的参数。

本发明通过选择不同方面的测试方法、以一定顺序进行组合,判断出硬盘在各种工作模式下的性能,并检测硬盘在各种硬盘控制器下的兼容性,能够针对多种类型的硬盘控制器和工作模式,对硬盘的稳定性、可靠性、功能性、兼容性等多个方面进行全面测试和评估。

附图说明

图1是根据本发明实施例的硬盘测试方法的流程图;

图2是根据本发明实施例的硬盘测试装置的框图。

具体实施方式

根据本发明的实施例,提供了一种硬盘测试方法。

如图1所示,根据本发明实施例的硬盘测试方法包括:

步骤S101,读取硬盘的第一预定参数信息;

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