[发明专利]RAID卡的测试方法有效
| 申请号： | 201110455790.9 | 申请日： | 2011-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102541704A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 李景运 | 申请（专利权）人： | 曙光信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人： | 陆鑫;房岭梅 |
| 地址： | 300384 天津市西青区华*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | raid 测试 方法 | ||
1.一种RAID卡的测试方法，包括：
步骤S1：将RAID卡与多块硬盘相连接，从而形成RAID阵列；以及
步骤S2：移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘，并使用第一硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。
2.根据权利要求1所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，进一步包括：
步骤S3：将在所述步骤S2中移除的硬盘安装回所述RAID阵列，并使用第二硬盘压力测试工具对所述RAID阵列进行压力测试。
3.根据权利要求1或2所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，进一步包括：
步骤S4：在不断开电源的情况下，对所述RAID阵列所在的服务器连续进行多次开启操作和关闭操作。
4.根据权利要求1所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述第一硬盘压力测试工具为IOmeter或者IOzone。
5.根据权利要求2所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述步骤S2包括：
步骤S21：移除所述RAID阵列中的至少一块硬盘；以及
步骤S22：在所述RAID阵列处于降级状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行24个小时的4KB读写压力测试。
6.根据权利要求2所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述第二硬盘压力测试工具为IOmeter或者IOzone。
7.根据权利要求6所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述步骤S3包括：
步骤S31：将在所述步骤S2中移除的硬盘安装回所述RAID阵列；以及
步骤S32：在所述RAID阵列处于重建状态时，使用IOmeter或者IOzone对所述RAID阵列进行12小时的压力测试。
8.根据权利要求3所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述步骤S4包括：
步骤S41：开启服务器；
步骤S42：所述服务器根据预定时间周期设定下一次开启时间；以及
步骤S43：关闭所述服务器，但是不断开电源；
其中，在所述下一次开启时间时，所述服务器执行所述步骤S41至所述步骤S43，直到所述步骤S41至所述步骤S43被执行过预定次数。
9.根据权利要求8所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述预定次数至少为500次。
10.根据权利要求1所述的RAID卡的测试方法，其特征在于，所述RAID阵列为RAID5阵列。
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