[发明专利]一种半导体激光器老化/寿命测试实时监测方法及系统

权利要求书

1.一种半导体激光器老化/寿命测试的实时监测方法，其特征在于：

在对一批半导体激光器进行老化/寿命测试的过程中，用光接收器在设定位置分别接收各个半导体激光器发出的光并导出，用光电探测器分别测试这些导出的光的功率或者光强；若这些导出的光中，出现功率或者光强异常，则判定该批半导体激光器在寿命老化测试中出现异常；

所述设定位置是为使每一个半导体激光器被接收的光功率或光强的比例相等所确定的位置。

2.根据权利要求1所述的实时监测方法，其特征在于：所述设定位置是分别对应于各半导体激光器发光区域的固定位置，可以对应于各半导体激光器发光区域的中心位置。

3.根据权利要求1所述的实时监测方法，其特征在于：所述光接收器为光纤跳线或者光导管。

4.根据权利要求1所述的实时监测方法，其特征在于：

所述的光接收器个数与半导体激光器个数相同，均固定于各自的所述设定位置；

或者所述光接收器为一条光纤跳线或者光导管，安装于移动导轨上；光接收器在导轨上移动，依次在各个设定位置接收对应的半导体激光器发出的光并导出。

5.一种半导体激光器老化/寿命测试的实时监测系统，包括光接收器、吸光板、光电探测器和待测的多个半导体激光器，吸光板位于光接收器接收端面的后方，光接收器将接收的光输出至位于吸光板外部的所述光电探测器上；其特征在于：光接收器个数与半导体激光器个数相同，均固定设置于吸光板上，分别对应于各半导体激光器发光的中心位置，用于收集半导体激光器发出光的局部。

6.根据权利要求5所述的实时监测系统，其特征在于：所述光接收器为光纤跳线或者光导管。

7.根据权利要求6所述的实时监测系统，其特征在于：所述光接收器的输出端整齐排列固定；光电探测器设置于一个导轨上，光电探测器；在该导轨上，设定有对应于各个光接收器的输出端的探测位置。

8.一种半导体激光器老化/寿命测试的实时监测系统，包括光接收器、吸光板、光电探测器和待测的多个半导体激光器，吸光板位于光接收器接收端面的后方，光接收器将接收的光输出至位于吸光板外部的所述光电探测器；其特征在于：在光吸光板内侧，设置有一个导轨，光接收器安装于该导轨上使光接收器能够沿导轨运动；在该导轨上设定有光电探测器，用于探测各半导体激光器发出光的相同比例的局部。

9.根据权利要求8所述的实时监测系统，其特征在于：所述光接收器为光纤跳线或者光导管。

10.根据权利要求9所述的实时监测系统，其特征在于：所述光接收器的输出端与光电探测器相接，或者光接收器的输出端面与光电探测器的探测端面相对设置。