[发明专利]一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置

权利要求书

1.一种电信卡密码覆膜有效去除及其性能评定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

(1)设置实验参数：设置待测电信卡的起始位置、结束位置、运行速度，以及划擦载荷值；

(2)在预定的运行速度和载荷条件下对使电信卡进行刮膜实验，测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的一组实验数据(密码覆膜的去除宽度和去除长度)；

(3)更换同一类别新电信卡，重复上述步骤(2)二次，得到在相同运行速度和划擦载荷下电信卡密码覆膜去除的三组实验数据；

(4)改变划擦载荷值，重复上述中的步骤(2)、(3)，得到不同划擦载荷下多组实验数据；

(5)依次更换另一种待测电信卡，每更换一种待测电信卡，均重复上述的(1)、(2)、(3)、(4)步骤，得到每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据；

(6)根据每种待测电信卡在不同划擦载荷下多组实验数据进行处理，得到该种待测电信卡在不同划擦载荷下的有效去除面积比数，并制作每种待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，

(7)对比各测试载荷下各种待测电信卡的有效去除面积比数，筛选出相同载荷范围内去除面积比数大的电信卡为具有较好密码覆膜性能的电信卡。

2.根据权利要求1中的所述的方法，其特征在于，所述步骤(6)中每种待测电信卡的实验数据处理的具体步骤如下：

<6.1>将每种卡在同一种划擦载荷下密码覆膜去除的三组实验数据分别求得有效去除面积比数，取其平均值作为该类卡在该条件(运行速度、划擦载荷)下的最终结果；

定义密码覆膜层的有效去除面积比数A为：

A＝(去除宽度*去除长度)/(覆膜宽度*覆膜长度)

<6.2>将每种卡在不同划擦载荷下的数据按<6.1>进行处理，得到不同载荷下密码覆膜的有效去除面积比数A；

<6.3>使用上述同样的方法依次处理所有待测电信卡的实验结果，得到不同划擦载荷下各种电信卡密码覆膜有效去除面积比数A；

将实验测试中的划擦载荷作为横坐标，在不同划擦载荷下，电信卡密码覆膜的有效去除面积比数作为纵坐标，得到各种待测电信卡划擦载荷与有效去除面积比数的关系曲线。并根据该分布曲线，筛选出电信卡密码覆膜的性能。

3.一种用于实现如权利要求1所述方法的实验装置，其特征在于，该实验装置包括：基座以及安装在基座上的控制面板、一维电动平台、电信卡固定槽板、由刮膜器卡具以及刮膜器组成的刮膜装置、由竖杆和套在竖杆上的砝码组成的载荷施加装置，以及由平衡杆、支座、平衡配重块、平衡调节螺栓组成的平衡配置装置；其中，控制面板安装在基座的前侧面板上；一维电动平台安装在基座上表面；电信卡固定槽板安装在一维电动平台上且随着该平台运动而运动；载荷施加装置安装于基座上；刮膜装置安装于载荷施加装置上。