[发明专利]一种循环流化床固体通量测量方法及测量系统

权利要求书

1.一种循环流化床固体通量测量方法，包括下列步骤：

1)在循环流化床反应器的下降段选取两个横截面作为测量面；

2)对于每个测量面，利用扇束射线在一段时间内连续测量该测量面的固体截面平均体积分率；所述扇束射线是能够穿透反应器内固体物料的扇束形状的射线；

3)计算两个测量面的固体截面平均体积分率的时间函数的互相关函数R(τ)，找出使该互相关函数取值最大的时间滞后量τ，进而计算出所述循环流化床的固体通量。

2.根据权利要求1所述的循环流化床固体通量测量方法，其特征在于，循环流化床固体通量测量方法，所述两个横截面的间距为100mm至1500mm。

3.根据权利要求1所述的循环流化床固体通量测量方法，其特征在于，所述步骤1)中，灵活调整下降段的所述两个测量面的位置和间距；所述步骤2)中，对于每个测量面的位置组合，利用扇束射线在一段时间内连续测量该测量面的固体截面平均体积分率；所述步骤3)中，对于每个测量面的位置组合计算其两个测量面的固体截面平均体积分率的时间函数的互相关函数R(τ)，找出使互相关函数R(τ)取最大值的测量面的位置组合和时间滞后量τ并将该时间滞后量τ作为固体物料在该位置组合的上测量面运动至下测量面所花的时间，进而计算出所述循环流化床的固体通量。

4.根据权利要求1所述的循环流化床固体通量测量方法，其特征在于，所述步骤2)中，所述扇束射线为扇束x射线或扇束γ射线。

5.根据权利要求1所述的循环流化床固体通量测量方法，其特征在于，所述步骤2)包括下列子步骤：

21)反应器内无物料状态下，对本底射线衰减信号进行测量，得到间距为d的两个测量截面的反应器本底射线衰减信号和和分别代表上测量面和下测量面所对应的探测器的第i个像素点测量到的射线强度；

22)反应器测量段内固体物料紧密堆积状态下，对两个测量面的射线衰减信号和进行测量，和分别代表上测量面和下测量面所对应的探测器的第i个像素点测量到的射线强度；

23)反应器正常运行状态下，对两个测量面的射线衰减信号和进行测量，和代表上测量面和下测量面所对应的探测器的第i个像素点测量到的射线强度；

24)根据公式ϵs(i)=ϵsf·(ln(It(i)/Io(i))/ln(If(i)/Io(i))),]]>计算探测器第i个像素点对应的射线穿透路径上的固体体积平均分率，其中为固体物料紧密堆积状态下的固体体积分率；

25)根据公式分别计算出上测量面和下测量面的截面平均固体体积分率和其中l(i)为第i个像素点对应的射线穿过反应器内的距离，n为测量面所对应的探测器的像素数目。