[发明专利]基于探针力曲线的材料物理特性测量系统及方法无效

专利信息
申请号: 201110449101.3 申请日: 2011-12-29
公开(公告)号: CN103185812A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 刘志华;董再励 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: G01Q60/24 分类号: G01Q60/24;G01N3/00;G01N19/04
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 周秀梅;许宗富
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 基于 探针 曲线 材料 物理 特性 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种基于探针力曲线的材料物理特性测量系统,其特征在于,包括

A/D转换单元,用于采集由探针倾角变化所引起的偏差信号;

核心控制器,接收A/D转换单元提供的偏差信号,进行信息处理,通过D/A转换单元向样品台发送运动控制指令;

D/A转换单元,用于控制样品台的三维运动;

DSP,用于获取探针力曲线数据和样品表面的物理特性信息。

2.根据权利要求1所述的基于探针力曲线的材料物理特性测量系统,其特征在于,所述核心控制器包括

数字滤波单元,用于滤除偏差信号中的噪声;

数字运算单元,用于数字滤波单元输出信号的二进制运算;

Tapping,用于数字运算单元输出信号的解析,将该信号恢复为探针姿态所对应的力学信号;

PID算法单元,用于对上述力学信号进行比例-积分-微分运算及系统的闭环反馈控制;

异步FIFO,通信过程中的数据临时存储队列,用于实现通信过程的快写快读;

SCANSCALE寄存器,用于与异步FIFO配合,进行较大数据量的临时存储。

3.一种基于探针力曲线的材料物理特性测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

通过原子力显微镜探针获取样品表面的力学信息,探针姿态变化造成光学位置敏感元件模拟电信号输出;

通过A/D转换器将上述模拟电信号转换为数字信号;

对上述数字信号进行滤波、二进制运算,再解析成探针姿态所对应的力学信号,进行比例-积分-微分运算及系统的闭环反馈控制;

计算样品表面的物理信息,包括杨氏模量、粘附力和能量耗散信息。

4.根据权利要求3所述的基于探针力曲线的材料物理特性测量方法,其特征在于,所述杨氏模量通过

F-Fadh=43E*R(d-d0)3]]>

E*=[1-vs2Es+1-vtip2Etip]-1]]>

计算得出,其中,F-Fadh是减去粘附力后悬臂梁所受的力,R是针尖尖端的半径,d-d0是样本的形变量,折合模态E*是拟合的结果,Etip为针尖模量,vs和vtip为Poisson比。

5.根据权利要求3所述的基于探针力曲线的材料物理特性测量方法,其特征在于,所述粘附力为探针力曲线上最低点所对应的值。

6.根据权利要求3所述的基于探针力曲线的材料物理特性测量方法,其特征在于,所述能量耗散通过

W=F·dZ=0TF·vdt]]>

计算得出,其中W表示一个作用周期内的能量耗散,F是作用力向量,dZ是位移矢量。

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