[发明专利]信号模拟装置、信号录制与模拟测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子模拟装置、录制与测试方法，特别涉及一种信号模拟装置、信号录制与模拟的测试方法。

背景技术

随着微机电技术的快速发展，使得测试主机也可以连接各种不同种类的待测装置。为能确保测试主机与待测装置可以正确通讯，因此开发人员需要熟悉待测装置上所使用的积体整合电路(简称IC)的运作。一般而言，每一个IC都会有其规格书(Spec.)，在规格书中会记载该IC的运作时脉、触发波形或运作波形等信息。所以开发人员必须熟读每一个IC的规格书方能进行IC的开发或除错。

此外，在对IC进行测试时需要用到微控制器(micro control unit，MCU)发出控制的指令与波形。而IC的运作频率与接脚数量会受到MCU的种类所决定。这对于开发人员也是另一项的负担。再者，将MCU连接于IC时需要逐一的连接相应的脚位，这对于生产线而言，这样的连接需要耗费许多时间。因此会拖累整体的测试效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种信号模拟装置，其是用以撷取测试主机所发出的测试信号，并且向待测装置发出相应的测试信号。

本发明提出一种信号模拟装置，包括输入界面、计时器、处理单元、储存单元与信号撷取单元。输入界面电性连接于测试主机，输入界面用以接收测试信号。计时器根据测试信号调整为相应的时脉周期。处理单元用以设定计时器的时脉周期。信号撷取单元电性连接于输入界面、计时器与处理单元，信号撷取单元通过输入界面录制测试信号。

本发明还提出一种信号录制方法，其包括以下步骤：调整信号模拟装置的时脉周期；将信号模拟装置连接于测试主机，用以接收测试信号；信号撷取单元根据时脉周期录制测试信号，并将测试信号记录于储存单元。

除了上述的信号录制方法外，本发明还提出一种信号模拟测试方法，用以向待测装置进行相应的测试。信号模拟测试方法包括：将信号模拟装置连接于待测装置。选择相应待测装置的时脉周期。处理单元根据时脉周期将以分割的测试信号依序的发送给待测装置。

本发明在测试主机与周边装置之间还设置一信号模拟装置，信号模拟装置将传输于其中的测试信号进行录制。信号模拟装置完成测试信号的录制后，使用者可以将信号模拟装置连接至其他的待测设备。使用者通过信号模拟装置向待测设备发出所录制的测试信号。如此一来，在进行信号测试的过程中，使用者就不需要连接测试主机也可以进行测试的处理。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1A为本发明的架构示意图；

图1B为本发明的信号模拟装置的架构示意图；

图2为本发明的时脉周期与测试信号比对示意图；

图3为本发明的运作流程示意图。

其中，附图标记

测试主机100

测试信号110

信号模拟装置200

输入界面210

计时器220

处理单元230

信号撷取单元240

储存单元250

输出界面260

切换开关270

待测装置300

具体实施方式

下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：

本发明所述的测试主机100可以应用在个人计算机(personal computer)、笔记型计算机(notebook)、服务器(server)或其他具有运算能力的电子装置。请参考图1A所示，其为本发明的架构示意图。本发明的信号录制与测试系统包括测试主机100、待测装置300与信号模拟装置200。信号模拟装置200可以连接于测试主机100或待测装置300。信号模拟装置200也可以同时的连接于测试主机100与待测装置300之间。待测装置300可以是但不限定为发光二极管(light-emitting diode，LED)、蜂鸣器(Beep)、从属式IC(Slave IC)、串行式IC(Serial IC)或其他单向传输的装置。