[发明专利]用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置及校准方法

权利要求书

1.一种用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置，其特征在于，包括：固定底座(1)，设置在固定底座(1)一侧面的标尺(2)，设置在固定底座(1)上端面一端的声传感器固定结构(3)，设置在固定底座(1)上端面另一端的吸声块(5)，连接在固定底座(1)上端面上的用于产生校准信号的校准导线(4)，所述的校准导线(4)与磁声成像实验系统的激励源连接。

2.根据权利要求1所述的用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置，其特征在于，所述的固定底座是由有机玻璃制成。

3.根据权利要求1所述的用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置，其特征在于，所述的声传感器固定结构(3)包括有：形成在固定底座(1)上的用于安放声传感器的固定槽(6)，用于固定声传感器的固定卡(8)，形成在固定槽(6)两侧的用于固定固定卡(8)的固定螺孔(7)。

4.根据权利要求3所述的用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置，其特征在于，所述的固定卡(8)设置有1～2个。

5.根据权利要求1所述的用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置，其特征在于，所述的校准导线(4)是由第一校准导线(4a)和第二校准导线(4b)组成，所述的第一校准导线(4a)和第二校准导线(4b)之间相隔距离d。

6.根据权利要求1所述的用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置，其特征在于，所述的吸声块(5)的材质采用海绵或棉布。

7.一种使用权利要求1所述的用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置的校准方法，其特征在于，包括有如下步骤：

1)首先将声传感器用固定卡和螺钉固定在用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置的底座上，并将声传感器连接到磁声成像实验系统的检测处理单元；

2)调整第一校准导线(4a)和第二校准导线(4b)之间的距离，使该两者之间距离为d，并将两根校准导线连接到磁声成像实验系统的激励单元；

3)测量声传感器端面分别到第一校准导线(4a)和第二校准导线(4b)的距离l₁和l₂；

4)将连接好的用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置浸入声耦合剂中，使用磁声成像实验系统的激励单元产生激励信号；

5)记录校准波形S₀(t)；

6)将用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置换成成像目标进行成像实验，记录测量信号S₁(t)，S₂(t)，S₃(t)…；

7)则根据零时刻校准后，则各记录波形分别修正为S₁(t-t₀)，S₂(t-t₀)，S₃(t-t₀)。

8.根据权利要求7所述的使用用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置的校准方法，其特征在于，步骤3所述的距离l₁和l₂是通过用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置上的标尺读取。

9.根据权利要求7所述的使用用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置的校准方法，其特征在于，步骤5所述的校准波形S₀(t)包括：三个脉冲，第1个脉冲为电磁耦合脉冲，第2、3个脉冲分别为第一校准导线(4a)和第二校准导线(4b)所对应的磁声耦合脉冲。

10.根据权利要求9所述的使用用于磁声耦合成像的检测信号零点校准装置的校准方法，其特征在于，测量校准波形S₀(t)的初始时刻电磁耦合脉冲t_induce，设t_induce＝0时刻；测量第一校准导线(4a)和第二校准导线(4b)对应峰值时刻t_a，t_b，计算峰值对应时间差Δt＝t_b-t_a；

由于声耦合剂为均匀介质，声速一致，设声传感器端面对应的时刻为t₀，则

l1ta-t0=l2tb-to]]>

可得，即传感器端面对应时刻与电磁耦合脉冲t_induce时间差为t₀＝(l₁t_b-l₂t_a)/(l₁-l₂)。