[发明专利]一种IC卡生产测试系统有效
| 申请号: | 201110444005.X | 申请日: | 2011-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN103186798B | 公开(公告)日: | 2017-08-01 |
| 发明(设计)人: | 房鸿利 | 申请(专利权)人: | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G06K17/00 | 分类号: | G06K17/00 |
| 代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司11212 | 代理人: | 杨立 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 ic 生产 测试 系统 | ||
技术领域
本发明涉及通信领域,尤其涉及一种IC卡生产测试系统。
背景技术
SD卡是一种基于半导体快闪记忆器的新一代记忆设备,它被广泛地应用于便携式装置上,例如数码相机、手机、多媒体播放器等。目前,各种新型的SD卡不断出现,比如带射频功能的RFID-SD卡、带加密功能的SD-KEY等,已经在现实生活中有所应用。SD卡在出货以前都需要进行检测,此检测称为生产测试,检测后,向检测合格的SD卡中下载COS(Card Operating System,卡片操作系统),特别是带有新功能的RFID-SD、SD-KEY等需要下载数个COS,而COS一般都是卡中的关键数据,需要加以保护,以防止关键数据被别人窃取。但目前的生产环境对关键数据的保护还主要是靠制度和指定生产场所进行,安全性与可操作性都比较差。
同SD卡一样,其他的IC卡(例如SIM卡)也存在同样的问题,即生产环境对IC卡关键数据的保护方面存在安全隐患,且可操作性比较差。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种IC卡生产测试系统,提高生产环境对IC卡关键数据的保护方面的安全性。
为解决上述技术问题,本发明提出了一种IC卡生产测试系统,包括:
测试装置,用于对IC卡进行测试;
认证装置,用于对IC卡进行认证;
控制装置,用于对所述测试装置和所述认证装置进行控制,以及将IC卡的认证信息传递给所述认证装置和将所述认证装置的认证信息传递给IC卡
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述认证装置为USB-KEY。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述控制装置为计算机。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述认证装置包括:
认证模块,用于接收IC卡的认证信息并对该认证信息进行处理;
记录模块,用于记录所述测试装置对IC卡的测试结果,测试结果为合格的IC卡数量、测试结果为不合格的IC卡数量以及经过所述测试装置测试的IC卡总量;
授权模块,用于保存IC卡的授权生产数量,计算该授权生产数量与所述记录模块记录的经过所述测试装置测试的IC卡总量的差值,在该差值不为零时对IC卡的生产进行授权;
安全存储模块,用于接收并存储IC卡的保密数据。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述测试装置包括:
电流检测模块,用于对IC卡的上电电流进行检测;
读卡器,用于将IC卡发出的数据传递给所述控制装置,以及将所述控制装置发出的数据传递给IC卡;
主控模块,用于控制所述电流检测模块和所述读卡器。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述主控模块、所述电流检测模块和所述读卡器设置于同一电路板上。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述主控模块和所述电流检测模块设置于第一电路板上,所述读卡器设置于第二电路板上,所述第二电路板与所述第一电路板通过插针连接。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述测试装置还包括:
开关,用于在所述主控模块的控制下给所述读卡器通电或者断电;
接口外延部件,用于连接IC卡和所述读卡器。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述测试装置还包括USB集线器,所述USB集线器用于连接所述主控模块和所述控制装置,以及连接所述读卡器和所述控制装置。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述电流检测模块的数目为一个或多个,所述读卡器的数目与所述电流检测模块的数目相等。
进一步地,上述IC卡生产测试系统还可具有以下特点,所述IC卡为智能卡或存储卡, 所述智能卡为SIM卡、USIM卡或UIM卡,所述存储卡为SD卡、TF卡或MMC卡。
本发明的IC卡生产测试系统,通过认证装置对IC卡的身份认证,能够防止IC卡的关键数据被窃取,提高了生产环境对IC卡关键数据的保护方面的安全性,且操作方便。而且,本发明的IC卡生产测试系统,能够检测IC卡的上电电流,防止电流过大对被测IC卡或测试装置造成损害,起到很好的短路保护作用。
附图说明
图1为本发明实施例中IC卡生产测试系统的结构框图;
图2为图1中测试装置110的一种结构框图;
图3为图1中测试装置110的另一种结构框图;
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