[发明专利]一种人工电磁材料试验点的选取方法及装置有效

专利信息
申请号: 201110443373.2 申请日: 2011-12-27
公开(公告)号: CN103185840A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 刘若鹏;李春来;刘斌;陈智伟 申请(专利权)人: 深圳光启高等理工研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 人工 电磁 材料 试验 选取 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种人工电磁材料试验点的选取方法,其特征在于,包括:

通过正交实验设计确定出人工电磁材料初始试验点;

基于所述确定出的初始试验点初步确定人工电磁材料的折射率分布图,该分布图的X轴和Y轴为所述初始试验点确定出的水平轴,Z轴为折射率所在轴;

当Y轴选取不同数值时,分别通过对所述确定出的折射率分布图中与Y轴所取数值对应的X轴及Z轴的初始试验点进行三次样条插值,得到折射率分布曲线;

选出每条所述折射率分布曲线中的最大折射率和最小折射率,在最大折射率和最小折射率之间确定折射率采样点,并基于所述折射率采样点和对应的折射率分布曲线映射出X轴上的目标试验点。

2.如权利要求1所述的人工电磁材料试验点的选取方法,其特征在于,所述基于所述确定出的初始试验点初步确定人工电磁材料的折射率分布图,包括:

通过所述确定出的初始试验点及电磁仿真软件初步确定人工电磁材料的折射率分布图。

3.如权利要求1所述的人工电磁材料试验点的选取方法,其特征在于,所述Y轴的数值为离散型数值。

4.如权利要求1所述的人工电磁材料试验点的选取方法,其特征在于,所述折射率采样点为均匀采样点或非均匀采样点。

5.如权利要求1所述的人工电磁材料试验点的选取方法,其特征在于,所述目标试验点的个数大于等于所述初始试验点。

6.一种人工电磁材料试验点的选取装置,其特征在于,包括:

正交选点模块,用于通过正交实验设计确定出人工电磁材料初始试验点;

折射率分布确定模块,用于基于所述确定出的初始试验点初步确定人工电磁材料的折射率分布图,该分布图的X轴和Y轴为所述初始试验点确定出的水平轴,Z轴为折射率所在轴;

插值模块,当Y轴选取不同数值时,分别通过对所述确定出的折射率分布图中与Y轴所取数值对应的X轴及Z轴的初始试验点进行三次样条插值,得到折射率分布曲线;

目标试验点获取模块,用于选出每条所述折射率分布曲线中的最大折射率和最小折射率,在最大折射率和最小折射率之间确定折射率采样点,并基于所述折射率采样点和对应的折射率分布曲线映射出X轴上的目标试验点。

7.如权利要求6所述的人工电磁材料试验点的选取装置,其特征在于,所述折射率分布确定模块包括一仿真模块,所述仿真模块通过所述确定出的初始试验点及电磁仿真软件初步确定人工电磁材料的折射率分布图。

8.如权利要求6所述的人工电磁材料试验点的选取装置,其特征在于,所述Y轴的数值为离散型数值。

9.如权利要求6所述的人工电磁材料试验点的选取装置,其特征在于,所述折射率采样点为均匀采样点或非均匀采样点。

10.如权利要求6所述的人工电磁材料试验点的选取装置,其特征在于,所述目标试验点的个数大于等于所述初始试验点。

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