[发明专利]测量机器部件对于发射器的接近度的传感器组件和方法

权利要求书

1.一种微波传感器组件(110)，其包括：

包括发射器(206)的至少一个探头(202)，所述发射器(206)配置成：

从至少一个微波信号产生电磁场；以及

产生代表由安置在所述电磁场内的物体在所述发射器内引起的加载的至少一个加载信号；和

耦合于所述至少一个探头的信号处理装置(200)，所述信号处理装置包括配置成基于所述至少一个加载信号产生大致上线性的输出信号的线性化器(222)。

2.如权利要求1所述的微波传感器组件(110)，其中所述信号处理装置(200)配置成当所述发射器由所述至少一个微波信号激励时产生代表所述物体对于所述发射器(206)的接近度的大致上线性的输出。

3.如权利要求1所述的微波传感器组件(110)，其中所述线性化器(222)包括在处理器(402)内编程的传递函数。

4.如权利要求1所述的微波传感器组件(110)，其中所述线性化器(222)包括至少一个运算放大器(300)。

5.如权利要求1所述的微波传感器组件(110)，其进一步包括第一功率检测器(212)，其检测包含在所述至少一个微波信号中的功率的量。

6.如权利要求5所述的微波传感器组件(110)，其进一步包括第二功率检测器(214)，其检测包含在所述至少一个加载信号中的功率的量。

7.如权利要求1所述的微波传感器组件(110)，其中所述信号处理装置(200)配置成基于包含在所述至少一个微波信号中的功率的量和包含在所述至少一个加载信号中的功率的量之间的差来计算所述物体对于所述发射器(206)的接近度。

8.一种功率系统(100)，其包括：

机器(102)；和

接近所述机器安置的微波传感器组件(110)，所述传感器组件包括：

包括发射器(206)的至少一个探头(202)，其配置成：

从至少一个微波信号产生电磁场，其中当所述机器的至少一个部件安置在所述电磁场内时在所述发射器内引起加载；以及

产生代表引起的加载的至少一个加载信号；和

耦合于所述至少一个探头的信号处理装置(200)，所述信号处理装置包括配置成基于所述至少一个加载信号产生大致上线性的输出信号的线性化器(222)。

9.如权利要求8所述的功率系统(100)，其中所述信号处理装置(200)配置成当所述发射器由所述至少一个微波信号激励时产生代表所述至少一个部件对于所述发射器(206)的接近度的大致上线性的输出。

10.如权利要求8所述的功率系统(100)，其中所述信号处理装置(200)包括处理器(402)，并且其中所述线性化器(222)包括在所述处理器内编程的传递函数。