[发明专利]单晶硅制造工艺无效
| 申请号: | 201110430416.3 | 申请日: | 2011-12-21 |
| 公开(公告)号: | CN103173850A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
| 发明(设计)人: | 袁文宝 | 申请(专利权)人: | 卉欣光电科技(江苏)有限公司 |
| 主分类号: | C30B15/00 | 分类号: | C30B15/00;C30B29/06 |
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| 地址: | 225507 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 单晶硅 制造 工艺 | ||
技术领域
本发明涉及单晶硅制造工艺,更具体地说,本发明涉及一种通过直拉法(Czochralski法)制造单晶硅的工艺。
背景技术
单晶硅属于立方晶系,金刚石结构,是一种性能优良的半导体材料,广泛应用于红外光谱频率光学元件、红外及.r射线探测器、集成电路、太阳能电池等。现在最广泛的单晶硅制造工艺是采用直拉法(Czochralski法)制造单晶硅,与其他制造工艺相比,在制造成本与单晶硅的性能方面有一定的优势,但现有通过直拉法(Czochralski法)制造单晶硅的工艺存在着不足,所制造的单晶硅质量不稳定,产品的一致性差。
杂质的措施。
发明内容
本发明的目的是克服现有通过直拉法(Czochralski法)制造单晶硅工艺的缺点,提供一种能稳定地制造高质量单晶硅的单晶硅制造工艺。
本发明通过下述技术方案实现技术目标。
单晶硅制造工艺,是一种通过直拉法(Czochralski法)制造单晶硅的工艺,其改进之处在于:所述方法包括以下步骤:
(1)多晶硅的装料和熔化:
a)将高纯多晶硅料粉碎,并在硝酸和氢氟酸的混合溶液中清洗外表面,除去可能的金属杂质;
b)将粉碎后的高纯多晶硅料放入高纯的石英坩埚内;
c)将石英坩埚放入单晶炉中的石墨坩埚中;
d)将单晶炉抽真空,再充入保护气,最后加热升温,加热温度超过硅材料的熔点1412℃,使硅材料充分熔化;
(2)引晶:
a)选用已经精确定向的单晶作为籽晶,所述单晶可以是长方形或圆柱形,直径为8mm,长为120mm,籽晶截面的法线方向为直拉单晶硅晶体的生长方向,为<111>或<100>方向;
b)对籽晶进行化学抛光;
c)多晶硅溶化后,对熔硅进行保温至熔硅的温度和流动达到稳定;
d)将方形<100>方向的单晶籽晶固定在籽晶轴上,并和籽晶轴一起旋转;
e)将籽晶缓缓下降,距液面10mm处暂停片刻,待籽晶温度接近熔硅温度时,将籽晶轻轻浸入熔硅,使头部首先少量溶解,然后和熔硅形成一个固液界面;
f)将籽晶逐步上升,与籽晶相连并离开固液界面的硅温度降低,形成单晶硅;
(3)缩颈:快速向上提拉籽晶,使新结晶的单晶硅的直径达到3mm,长度约为此时晶体直径的6~10倍,旋转速度为2~10rpm;所述石英坩埚沿晶体相反方向旋转,晶体的旋转速度比石英坩埚快1~3倍;
(4)放肩:将晶体控制到所需的目标直径;
(5)等径生长:所述石英坩埚和晶体相互反方向旋转,晶体的旋转速度为2.5~20rpm,石英坩埚的旋转速度为-1.25~-10rpm;根据熔体和单晶炉的状况,控制晶体等径生产所需长度;
(6)收尾:晶体直径逐渐缩小,离开熔体;
(7)降温:降低温度,逐渐冷却温度。
作为本发明的优选技术方案,所述步骤(2)的a)中籽晶截面的法线方向为<100>方向。
作为本发明的优选技术方案,所述步骤(5)的晶体的旋转速度为10rpm,石英坩埚的旋转速度为-5rpm。
本发明与现有技术相比,具有以下积极效果:
1、 所制造单晶硅质量好,碳含量、氧含量等主要性能指标优于市场同类产品。
2、 能稳定地制造高质量单晶硅,产品一致性好,产品合格高,制造成本低。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步说明。
单晶硅制造工艺,包括以下步骤:
(1)多晶硅的装料和熔化:
a)将高纯多晶硅料粉碎,并在硝酸和氢氟酸的混合溶液中清洗外表面,除去可能的金属杂质;
b)将粉碎后的高纯多晶硅料放入高纯的石英坩埚内;
c)将石英坩埚放入单晶炉中的石墨坩埚中;
d)将单晶炉抽真空,再充入保护气,最后加热升温,加热温度超过硅材料的熔点1412℃,使硅材料充分熔化;
(2)引晶:
a)选用已经精确定向的单晶作为籽晶,所述单晶可以是长方形或圆柱形,直径为8mm,长为120mm,籽晶截面的法线方向为直拉单晶硅晶体的生长方向,为<111>或<100>方向,优选技术方案:籽晶截面的法线方向为<100>方向;
b)对籽晶进行化学抛光;
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