[发明专利]成像系统与扫描方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种成像系统，特别涉及一种毫米波成像系统。

背景技术

近年来，用以检测毫米波(microwave)的辐射计(radiometer)广泛使用在成像系统上。举例来说，海关、重要会议等等。然而，一般的辐射计的增益会随着积分周期拉长而漂移，因此一般的成像系统会设计一个校正单元来校正辐射计的增益，增加了成像系统设计上的复杂度。除此之外，一般的辐射计使用步进马达(Step motor)来扫描图像，使得辐射计可在对应的像素中停留一个固定的积分周期来收集足够的能量。然而，现今的步进马达仍无法做到精准的停留与移动。因此，亟需一种成像系统，来解决以上的问题。

发明内容

有鉴于此，本公开提供一种成像系统，包括：一检测单元，用以感测一目标区域的一辐射能；以及一扫描单元，用以将辐射能引导至检测单元，其中在一扫描周期内，扫描单元在一等速度之下，扫描目标区域N次，使得目标区域内的每一像素被检测单元扫描N次，以便检测单元为每一像素产生N个子检测值，并且将N个子检测值相加之后得到每一像素的一检测值。

本公开亦提供一种扫描方法，适用于一成像系统，成像系统包括一检测单元与一扫描单元，扫描方法包括：在一扫描周期内，通过扫描单元在一等速度之下扫描一目标区域内N次，使得目标区域内的每一像素被检测单元扫描N次，以便为每一像素产生N个子检测值；以及将每一像素所产生的N个子检测值相加之后得到每一像素所产生的一检测值。

为了让本发明的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一优选实施例，并配合附图，作详细说明如下：

附图说明

图1是本公开的成像系统的一示意图；

图2是本公开的检测值与子检测值的一示意图，用以说明对应于像素P1的检测值；

图3是本公开的检测值与子检测值的一示意图，用以说明对应于像素P2的检测值；

图4是本公开的检测值与子检测值的一示意图，用以说明对应于像素PM的检测值；

图5是本公开的成像系统的另一实施例；以及

图6是本公开的扫描方法的一流程图。

【主要元件符号说明】

100、500：成像系统；

110：检测单元；

120：扫描单元；

150：目标区域；

130：聚焦单元；

140：可旋转式反射板；

P1～P4：像素；

δT：预定时间；

τ：积分周期；

IT：扫描周期；

δt：周期；

SG11～SG1N、SG21～SG2N、SGM1～SGMN：子检测值。

具体实施方式

图1是本公开的成像系统的一示意图。如图1所示，成像系统(imaging system)100包括一检测单元(detecting unit)110和一扫描单元(scanning unit)120。详细而言，检测单元110用以感测辐射能(radiation)，在本公开实施例中，检测单元110可以是毫米波辐射计(microwave radiometer)。扫描单元120用以将一目标区域150的辐射能引导至检测单元110。

此外，扫描单元120包括一聚焦单元(focusing unit)130和可旋转式反射板(rotatable reflector plate)140。聚焦单元130可以是反射式聚焦单元或折射式聚焦单元，用以将辐射能聚焦至检测单元110。可旋转式反射板140设置在检测单元110与聚焦单元130之间，用以将来自聚焦单元130的辐射能反射至检测单元110。在某些实施例中，可旋转式反射板140设置在目标区域150与聚焦单元130之间，用以将目标区域150的辐射能反射至聚焦单元130和检测单元110。可旋转式反射板140连续性(continuously)地旋转(或等速率旋转)，而非步进式(step by step)地旋转。举例来说，当扫描单元120扫描像素P1、像素P2或由像素P1切换至像素P2时，连续性旋转(或等速率旋转)可旋转式反射板140。