[发明专利]在硅基底表面制备含氟碳基薄膜的方法无效
申请号: | 201110426211.8 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN103160800A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 张俊彦;杨涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院兰州化学物理研究所 |
主分类号: | C23C16/26 | 分类号: | C23C16/26;C23C16/44 |
代理公司: | 兰州中科华西专利代理有限公司 62002 | 代理人: | 方晓佳 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基底 表面 制备 含氟碳基 薄膜 方法 | ||
1.一种在硅基底表面制备含氟碳基薄膜的方法,其特征在于该方法按照下列顺序步骤进行:
A沉积基片为抛光硅片,依次用无水乙醇、丙酮和超声波清洗机清洗;
B采用增强型等离子体气相沉积设备,薄膜沉积前,在4.5~5Pa下,基底下偏压800~1000V、频率20~30KHz、占空比60~80%下,以300sccm氩气对基片进行等离子体清洗30min;
C为增强含氟非晶碳膜和基片之间的结合力,在15~20Pa下,基底偏压1000~1200V、频率20~30KHz、占空比60~80%下,以10.3sccm甲烷、20sccm氢气沉积不含氟碳膜10~15min;
D在15Pa下,基地偏压1000~1200V、频率20~30KHz占空比60~80%下,沉积含氟碳膜,条件1sccm四氟化碳、10.3sccm甲烷、20sccm氢气。
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