[发明专利]液晶显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置领域，特别涉及一种液晶显示装置。

背景技术

液晶显示装置包括显示区域，所述显示区域由矩阵状的显示像素构成，该显示区域具有沿显示像素的行方向延伸的多条栅极线以及沿所述显示像素的列方向延伸的多条数据线。在这些栅极线与数据线的相交部分设置有开关元件以及与所述开关元件连接的像素电极，所述开关元件例如是薄膜晶体管(开关元件)，所述开关元件能够响应提供给每条栅极线的信号并将来自数据线的信号发送给对应的每个像素电极。

液晶显示装置还包括外围区域，所述外围区域包括扇形排布的数据线及扇形排布的栅极线。所述外围区域的数据线一端用以与数据驱动电路连接，获取数据信号；另一端用以与显示区域的数据线连接，将从数据驱动电路获取的数据信号提供给显示区域的数据线。所述外围区域的栅极线一端用以与栅极驱动电路连接，获取控制信号；另一端用以与显示区域的栅极线连接，将从栅极驱动电路获取的控制信号提供给显示区域的栅极线。

当显示区域或者外围区域的栅极线或者数据线出现断线、短路等各种布线不良的情况时，将导致液晶显示装置的显示缺陷，从而降低了产品质量。而随着显示像素的增加，在显示区域及外围区域的栅极线和数据线的线宽越来越细，而且间隔越来越小，因此断线、短路等各种布线不良的情况也越来越多。为了及时发现布线不良的情况，防止大规模不良发生以及不良品流入下一工序造成材料的浪费，在布线之后需要对栅极线和数据线进行检查，从而判断是否存在布线不良的情况。

目前，常利用短路棒(Shorting bar)技术对栅极线和数据线进行检测。由于检测栅极线和数据线的短路棒结构相似，仅就输入信号有所差异，因此，在本发明接下去的描述中仅以检测数据线的短路棒为例。具体请参考图1，其为现有技术中一种液晶显示装置的结构示意图。

如图1所示，液晶显示装置1包括：

短路棒区域12，与短路棒区域12电连接的外围区域11及与外围区域11电连接的显示区域10；

其中，短路棒区域12包括：检测端子120a、检测端子121a及检测端子122a；与检测端子120a连接的短路棒120b、与检测端子121a连接的短路棒121b及与检测端子122a连接的短路棒122b；与短路棒连接的连接线，在此，仅示意性的示出了与短路棒122b连接的连接线123，所述连接线123通过接触孔124与短路棒122b连接。

当利用短路棒对液晶显示装置1的外围区域11及显示区域10进行检测时，向检测端子120a、检测端子121a及检测端子122a提供检测信号。例如，向检测端子122a提供B(蓝色)信号，该B信号沿着信号传输通道125进行传递，具体的，沿着检测端子122a、短路棒122b、接触孔124、连接线123传至外围区域11的数据线110，再传至显示区域10的数据线100。

当显示区域10、外围区域11及短路棒区域12中的任一区域出现断线或者短路的情况时，在利用短路棒进行检测时便可在显示区域10出现相应的数据线缺陷，从而便可得出显示区域10、外围区域11或短路棒区域12中的某个位置上具有布线不良。但是，具体在该三个区域中的哪一个区域具有布线不良，在现有技术中很难判断。因此，比较常规的做法是出现布线不良就将液晶显示装置1予以报废，由此，大大提高了生产成本。

而现有技术中，由于静电效应，短路棒区域12时常会出现不良，特别是连接线123上临近接触孔124的地方容易产生断线不良。由此，给通过短路棒技术进行显示区域10及外围区域11的布线不良检测带来了一些麻烦。而对于短路棒区域12出现的不良，由于后续加载IC电路时，短路棒区域12将失效，因此，该处的不良并不影响液晶显示装置1的质量。即若是布线不良出现在短路棒区域12，其对于液晶显示装置1的质量并不影响，而将具有这种不良的液晶显示装置1予以报废，显然是一种浪费。

因此，提高短路棒区域12的可靠性，避免短路棒区域12的不良影响显示区域10及外围区域11的布线不良检测，将就变得非常重要了。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶显示装置，以解决现有技术中短路棒区域时常会出现不良，特别是接触孔处的断线的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种液晶显示装置，包括：

短路棒区域，所述短路棒区域包括：若干个检测端子，每个检测端子上连接有若干条短路棒，每条短路棒上连接有若干条连接线，其中，每条连接线通过至少两条信号传输通道与检测端子电连接；

外围区域，所述外围区域与所述短路棒区域电连接；