[发明专利]一种顶栅氧化锌薄膜晶体管的制备方法有效

专利信息
申请号: 201110423372.1 申请日: 2011-12-16
公开(公告)号: CN102522337A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 韩德栋;蔡剑;王薇;王亮亮;王漪;张盛东;任奕成;刘晓彦;康晋锋 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 氧化锌 薄膜晶体管 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种顶栅氧化锌薄膜晶体管的制备方法,包括以下步骤:

1)在玻璃衬底上生长透明导电薄膜,然后光刻和剥离,形成源、漏电极;

2)甩一层光刻胶,光刻显影,形成沟道区,沟道区内无光刻胶,其余区域被光刻胶覆盖,沟道区与源漏电极相交叠;

3)生长一层氧化物半导体层作为沟道层;

4)生长一层绝缘介质材料作为栅介质层;

5)生长一层导电薄膜作为栅电极,

6)将氧化物半导体、绝缘介质材料和导电薄膜一起剥离,形成沟道、栅介质和栅电极;

7)生长一层钝化介质层,光刻和刻蚀形成栅、源和漏的引出孔;

8)生长一层金属薄膜,光刻和刻蚀形成金属电极和互连。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤1)中,生长的导电薄膜由透明导电材料ITO形成。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤3)中,生长的氧化物半导体层采用氧化锌及其掺杂半导体材料。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤4)中,生长的绝缘介质材料层由氧化铝、二氧化硅、氮化硅或者高介电常数绝缘材料形成。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤5)中,生长的导电薄膜为透明导电材料。

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