[发明专利]浅沟槽隔离和穿透基板通孔于集成电路设计之内的整合有效
申请号: | 201110421747.0 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN102543829A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | M·A·巴克曼;S·M·麦钱特;J·奥森巴赫 | 申请(专利权)人: | LSI公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762;H01L21/768;H01L23/48 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 申发振 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 沟槽 隔离 穿透 基板通孔 集成电路设计 之内 整合 | ||
1.一种制造集成电路的方法,包括:
提供具有第一面和相反的第二面的基板;
在所述基板的所述第一面内形成浅沟槽隔离开口;
在所述基板的所述第一面内形成局部穿透基板通孔开口;
使所述局部穿透基板通孔开口延伸,其中延伸的局部穿透基板通孔开口比所述浅沟槽隔离开口更深入所述基板之内;
以第一固体材料填充所述浅沟槽隔离开口;以及
以第二固体材料填充所述延伸的局部穿透基板通孔开口,其中:
所述浅沟槽隔离开口、所述局部穿透基板通孔开口和所述延伸的局部穿透基板通孔开口都没有穿透所述基板的所述第二面的外表面,并且
执行以下处理中的至少任一个:所述浅沟槽隔离开口和所述局部穿透基板通孔开口同时形成;所述浅沟槽隔离开口和所述延伸的局部穿透基板通孔开口被同时填充。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:在所述基板的所述第一面上形成至少一个有源或无源电子元件,其中所述有源或无源电子元件通过位于所述有源或无源电子元件与相邻的有源或无源电子元件之间的所述浅沟槽隔离开口与在所述基板的所述第一面上的所述相邻的有源或无源电子元件电隔离。
3.根据权利要求1所述的方法,还包括:在所述基板的所述第一面上形成至少一个有源或无源电子元件,其中所述有源或无源电子元件通过位于所述有源或无源电子元件与相邻的延伸的局部穿透基板通孔开口之间的所述浅沟槽隔离开口与所述相邻的延伸的局部穿透基板通孔开口电隔离。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括:从所述基板的所述第二面去除所述延伸的局部穿透基板通孔开口内部的至少一部分的所述第二固体材料,使得第二面的穿透基板通孔开口从所述第二面延伸至所述基板的所述第一面。
5.根据权利要求4所述的方法,还包括:以导电性材料填充所述第二面的穿透基板通孔开口。
6.一种集成电路,包括:
具有第一面和相反的第二面的基板;
浅沟槽隔离结构,其中所述浅沟槽隔离结构的一端被掩埋于所述基板之内并且所述浅沟槽隔离结构的相反端位于所述基板的所述第一面的表面处;以及
穿透基板通孔,其中所述穿透基板通孔的一端位于所述基板的所述第一面的所述表面处并且所述穿透基板通孔的相反端位于所述基板的所述第二面的表面处,并且
其中,相同的绝缘层位于界定所述浅沟槽隔离结构的开口之内以及于界定所述穿透基板通孔的开口之内。
7.根据权利要求6所述的集成电路,其中所述浅沟槽隔离结构位于所述穿透基板通孔与位于所述基板的所述第一面之上的无源或有源电元件之间。
8.根据权利要求6所述的集成电路,还包括:位于所述基板的所述第一面之上并覆盖在所述第一面上的所述穿透基板通孔开口的导电层。
9.根据权利要求6所述的集成电路,还包括:在所述基板的所述第一面上的金属线和层间电介质层,其中所述金属线中的至少一个将位于所述基板的所述第一面之上的无源或有源电元件电连接至覆盖所述穿透基板通孔的导电层。
10.根据权利要求6所述的集成电路,其中所述基板通过所述穿透基板通孔与一个或更多个其他基板互连。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造