[发明专利]机器校准工具

权利要求书

1.一种校准工具，包括：

长形本体，所述长形本体包含陶瓷材料并具有伸长方向；以及

多个测量元件，所述多个测量元件包含陶瓷材料并与所述长形本体一体地形成，每个测量元件至少包括面向第一方向的第一平面测量表面，其中

每个测量元件的所述第一平面测量表面平行于所述多个测量元件中的每个其他测量元件的所述第一平面测量表面。

2.根据权利要求1所述的校准工具，其中，每个测量元件包括第二平面测量表面，所述第二平面测量表面平行于所述第一平面测量表面，每个第二平面测量表面面向与所述第一方向相反的第二方向。

3.根据权利要求1所述的校准工具，其中，每个测量元件包括凸部，所述凸部从支承构件沿与所述长形本体的所述伸长方向平行的方向延伸，且每个平面测量表面包括其中一个所述凸部的端面。

4.根据权利要求3所述的校准工具，其中，沿着所述长形本体的所述伸长方向截取的所述凸部的横截面呈梯形形状。

5.根据权利要求1所述的校准工具，其中，所述工具具有中性弯曲轴，且所述中性弯曲轴与所述平面测量表面中的每一个都相交。

6.根据权利要求5所述的校准工具，其中，每个平面测量表面包括接触区域，且所述中性弯曲轴与所述接触区域中的每一个都相交。

7.根据权利要求1所述的校准工具，其中，每个测量元件由支承横构件一体地支承，所述支承横构件横向于所述长形本体的所述伸长方向延伸。

8.根据权利要求1所述的校准工具，其中，每个平面测量表面相对于相应的测量元件的表面是凹进的。

9.根据权利要求1所述的校准工具，其中，所述长形本体包括通过横构件彼此连接的第一长形框架构件和第二长形框架构件，所述横构件垂直于所述长形框架构件。

10.根据权利要求1所述的校准工具，其中，所述校准工具包括由单块陶瓷形成的台阶式量规。

11.一种校准工具，包括：

单件式长形本体，所述单件式长形本体完全由陶瓷材料形成、并具有伸长方向，所述单件式长形本体包括多个测量元件，每个测量元件包括面向第一方向的第一平面测量表面，其中

每个测量元件的所述第一平面测量表面平行于所述多个测量元件中的每个其他测量元件的所述第一平面测量表面。

12.根据权利要求11所述的校准工具，其中，每个测量元件包括第二平面测量表面，所述第二平面测量表面平行于所述第一平面测量表面，每个第二平面测量表面面向与所述第一方向相反的第二方向。

13.根据权利要求11所述的校准工具，其中，所述工具具有中性弯曲轴，且所述中性弯曲轴与所述平面测量表面中的每一个都相交。

14.根据权利要求11所述的校准工具，其中，每个测量元件包括相应的凸部，所述凸部从支承构件沿与所述长形本体的所述伸长方向平行的方向延伸，且每个平面测量表面包括其中一个所述凸部的端面，沿所述长形本体的所述伸长方向截取的每个所述凸部的横截面呈梯形形状。

15.根据权利要求11所述的校准工具，其中，所述校准工具包括由单块陶瓷形成的台阶式量规。