[发明专利]按键使用寿命测试电路无效

专利信息
申请号: 201110421164.8 申请日: 2011-12-15
公开(公告)号: CN103163454A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 周明杰;赵永川 申请(专利权)人: 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明工程有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 何平
地址: 518100 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 按键 使用寿命 测试 电路
【权利要求书】:

1.一种按键使用寿命测试电路,用于通过对按键的闭合次数的统计来完成按键使用寿命的测试,包括电机,所述电机周期性地驱动两侧设有光源的按压机构按压按键;所述按压机构在周期性地按压按键时也在周期性地遮挡光源;

其特征在于,所述按键使用寿命测试电路还包括光控制模块及与所述光控制模块电连接并受光控制模块控制计数的计数器,所述光控制模块包括光感应器件,在光源周期性地被按压机构遮挡时,所述光感应器件周期性地接受光源的照射,所述光控制模块在光感应器件受到照射时控制计数器计数。

2.根据权利要求1所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述光控制模块包括具有电磁线圈和受电磁线圈控制吸合或断开的电磁开关的继电器K1,所述继电器K1的电磁开关两端连接在计数器的直流电压输出端和计数启动端之间,所述光控制模块在光感应器件被光源照射时使继电器K1的电磁线圈通电,使直流电压输出端输出的直流电压输入到启动端启动计数器计数。

3.根据权利要求2所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述光感应器件为用于获取周期性光源信号的光敏电阻R1,所述光控制模块进一步包括分压电阻R4、运算放大器及场效应管Q2;

所述光敏电阻R1与分压电阻R4串联后连接在直流电源与地之间;

所述运算放大器正相输入端电连接在光敏电阻R1与分压电阻R4的公共端之间,反相输入端输入基准电压;

所述场效应管Q2的栅极连接所述运算放大器的输出端、漏极接地;

所述继电器K1的电磁线圈两端分别连接直流电源和所述场效应管Q2的源极。

4.根据权利要求3所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述光控制模块还包括电阻R2、下拉电阻R5、稳压二极管Z1及电容C3,

所述电阻R2串联在所述运算放大器反相输入端与直流电源之间;

所述稳压二极管Z1正极接地,负极与电阻R2和运算放大器反相输入端的公共端电连接;

所述下拉电阻R5连接在运算放大器输出端与地之间;

所述电容C3并联在所述下拉电阻R5的两端。

5.根据权利要求1所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,还包括具有电磁线圈和受电磁线圈控制吸合或断开的电磁开关的继电器K2,所述继电器K2的电磁线圈连接在计数器内部继电器的常闭触点端与地之间;所述继电器K2的电磁开关与所述电机串联。

6.根据权利要求2至5任意一项所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述计数器为电子计数器TCN-P61B,所述电子计数器TCN-P61B的直流电压输端和计数启动端之间连接继电器K1的电磁开关,所述继电器K2的电磁线圈连接在电子计数器TCN-P61B内部继电器的常闭触点端与地之间。

7.根据权利要求1所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述电路还包括扬声器SP1,所述扬声器SP1连接在计数器内部继电器的常开触点端与地之间。

8.根据权利要求1所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述电路还包括用于控制电机电源接入的开关SW1,所述开关SW1与电机串联。

9.根据权利要求1所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述电路还包括变电模块,所述变电模块包括依次电连接的变压器T1、整流模块B1以及三端稳压管Q1,所述变压器T1初级输入所述交流电源的输入电压,次级输入与所述整流模块B1的输入端连接,所述整流模块B1的输出端经所述稳压电路管Q1输出稳定的直流电源。

10.根据权利要求8所述的按键使用寿命测试电路,其特征在于,所述变电模块还包括电容C1和电容C2,所述电容C1电连接在整流模块B1的输入端与地之间,所述电容C2电连接在三端稳压管Q1的输出端与地之间。

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