[发明专利]测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量装置。

背景技术

在一些测试领域中，如噪音声功率测试中，需要将多个麦克风设定在多个距离地面一定高度的位置点上来测试麦克风音量的大小。在噪音实验室中，通常是用一定长度的直尺来量测该距离地面一定的高度，并确定在该高度上的位置点，再将麦克风放置在该位置点上。一般的方法是先通过一个工具确定与地面垂直的方向，再将直尺沿该方向量测一定的高度。在该高度较高的时候，需要同时使用多把直尺，有时还需要两个人同时工作。这样，在设定该高度上的位置点时特别不方便。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种方便设定测量高度的测量装置。

一种测量装置，包括有支架及滑动架，所述支架包括有用以放置在一待测面上的底座及垂直所述底座的第一侧板，所述第一侧板包括有第一上表面，且设有第一刻度线，所述第一刻度线的刻度值自所述底座沿所述上表面方向逐渐增大，所述第一刻度线具有一最大刻度值，所述第一上表面与所述待测面之间的距离等于所述最大刻度值，所述滑动架滑动固定在所述支架上，所述滑动架包括一顶壁及垂直所述顶壁的第一侧壁，所述第一侧壁设有第二刻度线，所述第二刻度线的刻度值自所述底座沿所述顶壁方向逐渐减小，所述第二刻度线具有一最小刻度值，所述顶壁所对应的刻度值为所述最小刻度值，所述最大刻度值等于所述最小刻度值。

一实施方式中，所述最大刻度值为100厘米。

一实施方式中，所述支架还包括有第二侧板，所述第二侧板垂直所述第一侧板及所述底座，所述第二侧板包括有第二上表面，所述第二上表面与所述第一上表面处于同一平面，所述第二侧板上设有第三刻度线。

一实施方式中，所述第三刻度线的刻度值自所述第二上表面沿所述底座方向逐渐增大。

一实施方式中，所述滑动架还包括有垂直所述顶壁的后壁、第一侧壁、第二侧壁及与所述后壁相对的前壁，所述第一侧壁平行所述第二侧壁，所述第一侧壁垂直所述前壁，所述后壁与所述第一侧板相抵靠，且设有用以相对所述支架滑动的滑槽。

一实施方式中，所述第二侧壁与所述第二侧板相抵靠，所述前壁设有矩形开口，所述测量装置还包括有限位件，所述限位件包括有限位部及连接所述限位部的止挡部，所述第一侧板设有安装孔，所述限位部穿过所述开口及所述滑槽锁固在所述安装孔中。

一实施方式中，所述滑槽设有限位端，所述限位端在所述滑动架相对所述支架滑动的过程受到所述限位部的阻挡，用以防止所述滑动架滑出所述支架。

一实施方式中，所述测量装置还包括有防止所述滑动架滑动的固定件，所述固定件包括有锁固部、第一固定部及第二固定部，所述锁固部、所述第一固定部及所述第二固定部的横截面为圆形，且所述锁固部、所述第一固定部及所述第二固定部的直径依次增大，所述第一侧板设有锁孔，所述锁固部穿过所述开口及所述滑槽锁固在所述锁孔中。

一实施方式中，所述锁固部的直径小于所述滑槽的宽度，所述第一固定部与所述后壁相抵靠，且所述第一固定部的直径大于所述滑槽的直径且小于所述开口的宽度。

一实施方式中，所述第二固定部抵靠在所述前壁上，且所述第二固定部的直径大于所述开口的宽度。

与现有技术相比，在上述测量装置中，驱使所述滑动架滑出支架，滑动架上的刻度增大了测量的量程。所述支架上的刻度值逐渐增大，所述滑动架上的刻度值逐渐减小，且支架的最大刻度值等于滑动架的最小刻度值。这样，即使需要设定的高度大于支架的最大刻度值，也能够很方便地根据滑动架的刻度定位出设定的高度。

附图说明

图1是本发明测量装置的一较佳实施例的立体分解图。

图2是图1的一立体组装图。

图3是图2的另一视角图。

主要元件符号说明