[发明专利]用于分光光度计的测量装置及其测量方法有效
申请号: | 201110418509.4 | 申请日: | 2011-12-14 |
公开(公告)号: | CN103163088B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 赵江静;赵东阳;王悦;王铁军;李维森 | 申请(专利权)人: | 北京普源精仪科技有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司11257 | 代理人: | 张雪梅 |
地址: | 102206 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 分光 光度计 测量 装置 及其 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及分光光度计的测量技术领域,特别涉及一种用于分光光度计的测量装置及其测量方法。
背景技术
用分光光度计进行定量测量时,扣空白是十分普遍的操作。扣空白指的是用样品的测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据。空白样品指的是测量样品时所用的溶剂,空白测量数据是指对空白样品进行定量测量得到的数据。样品的测量条件要与空白样品的测量条件相同。扣空白可以方便地扣除溶剂对样品测量数据的影响。
现有技术中,扣空白通常通过设定第一个待测样品为空白样品,然后用样品的测量数据减去该空白样品的空白测量数据完成。采用这种方法,不管待测样品有多少个,都只能设定一个样品为空白样品,且只能设定第一个待测样品为空白样品,非常不方便用户使用。
目前,非常需要一种能够灵活、方便地扣空白的用于分光光度计的测量装置及其测量方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于分光光度计的测量装置。
本发明的另一目的是提供一种分光光度计。
本发明的再一目的是提供一种用于分光光度计的测量方法。
本发明提供的用于分光光度计的测量装置包括:
测量方法编辑单元,用于编辑分光光度计的测量方法;
采集方法编辑单元,用于根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;
启动器,用于启动对空白样品和待测样品的测量;
测量单元,用于根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;
判断单元,用于根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该测量数据相应的空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;
控制单元,用于在样品池内的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,并在样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后使测量单元开始测量。
进一步地,所述测量方法编辑单元用于对类型、单位、公式、波长点和校准曲线中的一个或多个进行编辑。
进一步地,所述采集方法编辑单元用于对空白样品和待测样品的ID、样品池的ID、批次、浓度和样品信息中的一个或多个进行编辑。
优选地,所述采集方法编辑单元进一步用于对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑。
优选地,所述测量装置是定量测量装置。
本发明提供的分光光度计包括所述测量装置。
本发明提供的用于分光光度计的测量方法包括如下步骤:
测量方法编辑步骤,编辑分光光度计的测量方法;
采集方法编辑步骤,根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;
启动步骤,启动对空白样品和待测样品的测量;
测量步骤,根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;
判断步骤,根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该待测样品的相应空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;
控制步骤,样品池中的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后返回至测量步骤。
优选地,所述测量方法编辑步骤包括对类型、单位、公式、波长点和校准曲线中的一个或多个进行编辑。
优选地,所述采集方法编辑步骤进一步包括对空白样品和待测样品的ID、样品池的ID、批次、浓度和样品信息中的一个或多个进行编辑。
优选地,所述采集方法编辑步骤进一步包括对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑。
优选地,所述测量方法适用于定量测量。
本发明具有如下有益效果:
本发明提供的用于分光光度计的测量装置和测量方法,可以同时设定多个样品为空白样品,并且可以根据需要设定任意样品为空白样品,使得测量过程中的扣空白操作更加灵活,方便用户使用。
附图说明
图1为本发明实施例提供的用于分光光度计的测量装置的示意图;
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