[发明专利]一种超材料匹配层的折射率获取方法和电磁作用器件有效
| 申请号: | 201110418477.8 | 申请日: | 2011-12-14 |
| 公开(公告)号: | CN103164556A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
| 发明(设计)人: | 刘若鹏;季春霖;岳玉涛;李勇祥 | 申请(专利权)人: | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;H01Q15/00 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 材料 匹配 折射率 获取 方法 电磁 作用 器件 | ||
1.一种超材料匹配层的折射率获取方法,其特征在于,包括:
采用仿真方式使第一电磁波倾斜透过匹配层,所述匹配层包括第一匹配层和第二匹配层;
获取用以描述和衡量所述匹配层对第一电磁波响应的数据,包括所述匹配层对应电磁波出射一侧表面的当前相位分布数据;
获取当前相位分布与目标相位分布之间的差距信息;
若所述相位分布之间的差距未达预期,改变所述匹配层的折射率分布,并返回获取所述匹配层对电磁波响应的数据的步骤,直至所述相位分布之间的差距达到预期。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,设定自电磁波激发源发出第二电磁波和所述第一电磁波,对应第一电磁波入射一侧的所述第一匹配层和对应第一电磁波出射一侧的第二匹配层对称分布。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述目标相位分布是第二电磁波传输至匹配层的对应第一电磁波入射一侧表面位置时的相位分布,并且所述位置是与第一电磁波从第二匹配层出射的位置相对称,所述目标相位与第一电磁波从第二匹配层出射位置的相位相差180度。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取用以描述和衡量匹配层对第一电磁波响应的数据的步骤包括:利用仿真工具得到所述当前相位分布的数据,以获取用以描述和衡量所述匹配层的折射率分布对当前相位分布影响的数据。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取当前相位分布与目标相位分布之间的差距信息的步骤包括,采用评价函数来衡量并获取当前相位分布与目标相位分布之间的差距信息,所述差距信息为当前相位分布与目标相位分布两条函数曲线夹住的面积。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述匹配层的折射率沿着匹配层的表面方向变化,在厚度方向上不变化。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述改变匹配层的折射率分布的步骤进一步包括:采用多个拟合点来拟合所述要改变的匹配层的折射率分布,并通过改变所述多个拟合点中的一个或多个拟合点的位置来改变所拟合的折射率分布。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述直至所述相位分布之间的差距达到预期的步骤进一步包括:
直至所述第一匹配层整个表面的当前相位分布与目标相位分布之间的差距均达到预期。
9.一种电磁作用器件,其特征在于,包括:
功能超材料及其表面设置的匹配层;
所述匹配层对电磁波的折射率沿着匹配层的表面方向变化,并使得入射至匹配层的电磁波在匹配层与功能超材料之间分界面被反射出去后,与相应位置处入射的电磁波相抵消。
10.根据权利要求9所述的电磁作用器件,其特征在于,所述匹配层对电磁波的折射率的分布沿着匹配层表面方向变化,在厚度方向上不变化。
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