[发明专利]核电站小型熔断器检测方法有效

专利信息
申请号: 201110417049.3 申请日: 2011-12-14
公开(公告)号: CN103163396A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 王国云;马蜀;丁俊超;张志飞;崔国华;汪世清;犹代伦;刘新东;李勇;孙志峰 申请(专利权)人: 中国广东核电集团有限公司;大亚湾核电运营管理有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/08;G01R19/00;G01K7/02;G01J5/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518031 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 核电站 小型 熔断器 检测 方法
【权利要求书】:

1.核电站小型熔断器可靠性检测方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:

根据核电站熔断器所处的状态进行检测,所述熔断器所处的状态包括作为备件前状态、作为使用前状态、作为运行中状态、作为故障分析或老化分析使用状态;

根据检测的结果处理熔断器。

2.如权利要求1所述的核电站小型熔断器可靠性检测方法,其特征在于,所述检测处于备件前状态的熔断器的步骤具体为:

采用放大镜或显微镜对处于核电站备件前状态的熔断器进行外观检测;

对通过外观检测的熔断器进行无损检测,以获取熔断器的性能参数,所述熔断器的性能参数包括冷态电阻、额定电流电压降、载流容量;

对通过无损检测的熔断器进行抽样有损检测,以获取抽样有损检测的熔断器的电压降曲线及所述电压降曲线的拐点特征值、温升曲线及所述温升曲线的拐点特征值、时间-电流特性曲线、电压降以及最大持续功耗;

根据检测的结果处理熔断器。

3.如权利要求2所述的核电站小型熔断器可靠性检测方法,其特征在于,所述对通过无损检测的熔断器进行抽样有损检测,以获取抽样有损检测的熔断器的电压降曲线及所述电压降曲线的拐点特征值、温升曲线及所述温升曲线的拐点特征值、时间-电流特性曲线、电压降以及最大持续功耗的步骤具体为:

判断进行无损检测的同一批次熔断器的性能参数是否全部合格;

在同一批次熔断器的性能参数全部合格时,对所述同一批次熔断器进行抽样有损检测,以获取抽样有损检测的熔断器的电压降曲线及所述电压降曲线的拐点特征值、温升曲线及所述温升曲线的拐点特征值、时间-电流特性曲线、电压降以及最大持续功耗;

在同一批次熔断器的性能参数不是全部合格时,将没有通过无损检测的熔断器标记为故障熔断器,并确定所述同一批次熔断器通过无损检测的合格率,在无损检测的合格率在预设合格率范围内时,对所述同一批次熔断器进行抽样有损检测。

4.如权利要求2所述的核电站小型熔断器可靠性检测方法,其特征在于,获取抽样有损检测的熔断器的电压降曲线及所述电压降曲线的拐点特征值的步骤具体为:

在第一预设时间内对熔断器通以第一预设电流;

以所述第一预设时间为间隔,并在下一个间隔到来时对熔断器通以所述第一预设电流与第一电流增量之和的电流,直到所述熔断器动作;

连续测量熔断器的电压,并以获取的电压值描点绘制曲线,根据绘制的电压降曲线获取所述电压降曲线的拐点特征值。

5.如权利要求2所述的核电站小型熔断器可靠性检测方法,其特征在于,获取抽样有损检测的熔断器的温升曲线及所述温升曲线的拐点特征值的步骤具体为:

在第二预设时间内对熔断器通以第二预设电流;

以所述第二预设时间为间隔,并在下一个间隔到来时对熔断器通以所述第二预设电流与第二电流增量之和的电流,直到所述熔断器动作;

连续测量熔断器最热部位的温度,并以获取的温度值描点绘制曲线,根据绘制的温升曲线获取所述温升曲线的拐点特征值。

6.如权利要求3所述的核电站小型熔断器可靠性检测方法,其特征在于,根据检测的结果处理熔断器的步骤具体为:

判断熔断器是否通过抽样有损检测;

将与通过抽样有损检测同一批次的熔断器标记为核电站的新备件;

将与抽样有损检测不合格的同一批次的熔断器标记为批次不合格,以及将无损检测的合格率不在预设合格率范围内的同一批次熔断器标记为批次不合格。

7.如权利要求1所述的核电站小型熔断器可靠性检测方法,其特征在于,检测处于使用前状态的熔断器的步骤具体为:

对处于使用前状态的熔断器进行第一次无损检测,以获取熔断器的性能参数,所述熔断器的性能参数包括冷态电阻、额定电流电压降、载流容量;

对通过第一次无损检测的熔断器进行长时间通电拷机检测,以获取熔断器在拷机期间的电阻、电压以及温度;

对通过长时间通电拷机检测的熔断器进行第二次无损检测,以获取熔断器的性能参数,所述熔断器的性能参数包括冷态电阻、额定电流电压降、载流容量;

根据检测的结果处理熔断器。

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