[发明专利]一种改善相变材料抛光后表面质量的抛光液有效
申请号: | 201110411337.8 | 申请日: | 2011-12-12 |
公开(公告)号: | CN102516878A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 王良咏;刘卫丽;宋志棠;刘波;钟旻 | 申请(专利权)人: | 上海新安纳电子科技有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;C09K5/02 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 许亦琳;余明伟 |
地址: | 201506 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 相变 材料 抛光 表面 质量 | ||
1.一种用于相变存储器的化学机械抛光液,包括抛光颗粒、氧化剂、表面改善剂和水性介质;以所述抛光液总重量为基准计,所述抛光颗粒的含量为0.1-30wt%,所述氧化剂的含量为0.01-10wt%,所述表面改善剂的含量为0.0001-5wt%。
2.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,以所述抛光液总重量为基准计,所述抛光颗粒的含量为0.5-5wt%;所述氧化剂的含量为0.1-5wt%;所述表面改善剂的含量为0.001-2wt%。
3.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述抛光颗粒为胶体SiO2或烧结SiO2,其粒径范围为1-500nm。
4.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述氧化剂选自双氧水、过硫酸钾、过硫酸铵、高锰酸钾、碘酸、高氯酸钾、高碘酸、碘酸钾、高碘酸钾和铁氰化钾中的一种。
5.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述表面改善剂选自脂肪醇聚氧乙烯醚、尿素、聚丙烯酸、色氨酸、碘化铵、脂肪醇聚氧乙烯醚磷酸酯、丁二酸、苏氨酸、吐温-80、甘氨酸、十六烷基三甲基溴化铵、溴化铵、聚乙烯醇磷酸铵、柠檬酸、精氨酸、羟乙基纤维素、缬氨酸、氯化铵、聚乙烯吡咯烷酮、氟化铵、聚乙二醇、丙氨酸、丝氨酸、氨基乙酸、聚乙烯醇、组氨酸、酪氨酸、硫化铵、苯丙三唑、异亮氨酸、对苯二酸、蛋氨酸、谷氨酸、聚丙酰胺、草酸胺、胱氨酸、酒石酸、聚乙烯胺、柠檬酸胺、脯氨酸、天门冬氨酸、亮氨酸、乙二胺四乙酸、乙酸胺、皮考林酸、葡萄糖酸、聚氧乙烯月桂醚以及苯丙氨酸。
6.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述抛光液中还包括pH调节剂,用以调节抛光液的pH值。
7.如权利要求6所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述pH调节剂选自硝酸、磷酸、硫酸、盐酸、氢氧化钾、甲胺、乙胺、羟乙基乙二氨、二甲胺、三乙胺、三丙胺、己胺、辛胺及环己胺中的一种或它们的任意组合;所述抛光液的pH值范围为1-13。
8.如权利要求1所述的化学机械抛光液,其特征在于,所述水性介质为去离子水。
9.如权利要求1-8中任一所述的化学机械抛光液的用途,其特征在于,所述抛光液应用于硫系化合物相变存储材料的化学机械抛光工艺。
10.如权利要求9所述的化学机械抛光液的用途,其特征在于,所述硫系化合物相变存储材料的化学通式选自GexSbyTe(1-x-y)、SixSbyTe(1-x-y)、AlxSbyTe(1-x-y)、SimSb100-m或GemSb100-m;其中,0≤x≤0.5,0≤y≤0.5,且x、y不同时为0,0<m<100。
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