[发明专利]一种单粒子误差注入仿真测试系统无效
| 申请号： | 201110404837.9 | 申请日： | 2011-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102495783A | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 王巍;王宁;徐飞;殷骏;刘慧芳;郑国平 | 申请（专利权）人： | 天津工业大学 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300160*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 误差 注入 仿真 测试 系统 | ||
1.一种单粒子误差注入仿真测试系统，其特征在于，该误差注入仿真测试系统包括计算机控制模块、串口控制模块、系统数据控制模块、RAM存储模块、功能测试输出比较模块、待测FPGA模块。计算机控制模块通过一个串口控制模块和测试主板进行连接；系统数据控制模块与功能测试输出比较模块之间连接，进行数据的控制与比较输出；RAM存储模块连接于系统数据控制模块，进行输出数据的存储。待测FPGA模块通过标准接口连接在测试主板上。
2.根据权利要求1所述的一种单粒子误差注入仿真测试系统，其特征在于，计算机控制模块，包括一个人机界面，具有误差和测试参数等设置、测试结果显示和分析统计等功能。
3.根据权利要求1所述的一种单粒子误差注入仿真测试系统，其特征在于，系统数据控制模块由一个Spartan-3E系列FPGA芯片组成，控制误差信息的注入，对待测FPGA进行抗单粒子翻转加固。
4.根据权利要求1所述的一种单粒子误差注入仿真测试系统，其特征在于，RAM存储模块由一个CY7C026高速双口静态RAM构成，用于存储正确的配置位信息和误差注入命令协议。
5.根据权利要求1所述的一种单粒子误差注入仿真测试系统，其特征在于，功能测试输出比较模块由一个Spartan-3E系列FPGA芯片组成，将主控FPGA读出的数据进行比较，判断其是否发生了位翻转。
6.根据权利要求1所述的一种单粒子误差注入仿真测试系统，其特征在于，待测FPGA可以是任意需要测试的FPGA芯片，接收各种加固电路以及接受误差注入。
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