[发明专利]一种低温等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法无效

专利信息
申请号: 201110402552.1 申请日: 2011-12-07
公开(公告)号: CN102431961A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 廖广兰;卓锐;史铁林;聂磊;张昆 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 低温 等离子体 活化 直接 三维 模具 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于半导体直接键合及MEMS封装领域,涉及模具制造技术,特别是涉及三维微型模具的制造方法,具体为一种低温等离子体活化实现硅硅直接键合的制备方法。

背景技术

近年来,通讯、计算机、汽车电子、国防科技和其他消费类产品对微电子封装提出了更高的要求,即更小、更薄、更轻、多功能、高可靠、低功耗和低成本。同时,随着科技产品微型化趋势的发展,MEMS器件中的微型处理器、微执行等零部件的需求越来越大,对于高性能的复杂三维微纳结构更是受到重视,其应用越来越广泛。

在生产实际中,对微型零部件越来越大的需求,从而推动了各种微成形技术中微模具的开发研究。由于在微成形工艺中,微模具尺寸非常小,模具的设计、制造以及材料的选择发生了变化,传统的模具设计原则不能完全应用于微型尺度;相应地,微模具的加工已很难用传统的数控加工、电火花加工等手段。目前所采用的LIGA等特殊的加工方法,成本高、效率低,并且在加工复杂三维型腔、控制表面粗糙度等方面还不能令人满意。因此,开发出适合实际生产、高效、高精度的三维微模具加工工艺方法就成为MEMS微成形领域的关键问题。

键合技术作为一种微加工工艺中较新的工艺方法,可以将表面硅加工和体硅加工有机地结合在一起。直接键合相对于其它键合方式,有着明显的优点,现已成为键合技术研究中的重点。

发明内容

本发明提供一种低温等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法,该方法能够实现在低温环境下大批量制备微米尺度的三维微型模具,具有成本低、效率高、精度高和柔性大的优点。

本发明提供的一种等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法,其工艺步骤如下:

分层设计:将待制备微模具进行分层设计,选择与分层数量相同、对应层厚度相等的硅片作为每层的基底,需要键合的硅片表面为抛光面;厚度通常为150μm~1000μm;

直接键合:对已刻蚀出图形的各硅片表面依次进行等离子体活化、预键合、低温退火四步工艺,完成多层硅片直接键合;

划片:划片批量得到带有三维形腔的微模具。

对于带图形的微模具,在分层设计与直接键合步骤之间进行深硅刻蚀:将各层硅片采用光刻及ICP深硅刻蚀的方法,刻蚀出待制备零件相应各层的结构图形,然后再进行湿法清洗。湿法清洗可以优选下述的过程进行:对各硅片表面依次进行丙酮超声清洗、去离子水冲洗、甩干表面水颗粒,然后在80℃~120℃烘烤3min~10min。

上述技术方案中,可以优选下述处理过程完成直接键合:

(1)一次等离子体活化所有硅片的一个抛光表面,二次等离子体活化双抛硅片的另一面;表面活化气氛为氧气,流量50sccm~150sccm、射频功率50~150W、活化时间5~20s;

(2)对完成等离子体活化后的各硅片用去离子水冲洗,旋转甩干加烘干,按照从上往下的顺序对准贴合所有硅片;

(3)对贴合完成的多层硅片进行退火,退火温度160~300℃,退火时间3h~72h,完成硅片的多层键合。

本发明与现有技术相比,其优点是:

(1)相对于湿法直接键合,本发明的等离子体活化多层硅硅直接键合,是干法直接键合,其工艺操作简单,可控性高,污染小,键合率高(98%以上)、键合强度大(达到体硅强度)、整体工艺流程效率高;

(2)本发明所有工艺都在低温环境下,可以减小MEMS器件封装时的局部应力、增强材料的稳定性;

(3)本发明方法能够在完整硅片上,同时加工制造出大量具有不同图形、高深宽比的不同用途的三维微型硅模具。并且,制备出的微硅模具可以承受较大的压力和较高的温度。

(4)本发明适用于高效、高精度制备MEMS(微机电系统)器件中带有阶梯、高深宽比的三维微型结构(如微齿轮轴、微阶梯轴、微泵等)的硅模具

附图说明

图1为本发明实施例一中待制备的三维微型零件的模具示意图;

图2为本发明实施例一中的工艺流程图;

图3为本发明实施例二中硅片双层直接键合效果图;

图4为本发明实施例三中三层硅片直接键合效果图。图5为本发明实施例四中带有图形的硅片直接键合效果图;

具体实施方式

下面通过借助实施例更加详细地说明本发明,但以下实施例仅是说明性的,本发明的保护范围并不受这些实施例的限制。

实施例一:

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