[发明专利]闪存文件系统可靠性分析方法无效

专利信息
申请号: 201110398912.5 申请日: 2011-12-05
公开(公告)号: CN102541668A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 胡事民;郭旭峰 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 闪存 文件系统 可靠性分析 方法
【权利要求书】:

1.一种闪存文件系统可靠性分析方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:选择工作负载和错误类型;

S2:运行所述工作负载,将读写请求发送到闪存文件系统,并按所述错误类型在闪存文件系统和操作系统的内存技术设备MTD驱动模块之间进行错误植入;

S3:植入错误后,将模拟错误的运行结果返回给闪存文件系统,若闪存文件系统未检测出模拟的错误或检测出后未修复,则认为闪存文件系统不可靠。

2.如权利要求1所述的闪存文件系统可靠性分析方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括:

测量所述工作负载调用所述MTD驱动模块中测试接口的总次数;

针对一个测试接口,随机选择一次进行相应的错误植入。

3.如权利要求2所述的闪存文件系统可靠性分析方法,其特征在于,所述错误植入的具体方式为:

通过在操作系统的用户态调用I/O控制函数,将用户态的错误植入命令传入操作系统内核,触发内核进行错误植入。

4.如权利要求2所述的闪存文件系统可靠性分析方法,其特征在于,所述测试接口为闪存文件系统对MTD驱动模块的调用接口,包括:nand_read、nand_write和nand_erase。

5.如权利要求1所述的闪存文件系统可靠性分析方法,其特征在于,所述步骤S3具体包括:

对于读、写、擦除错误,向上层直接返回-EIO;对于读污染,采取“比特位翻转”的方式:从所述MTD驱动模块中读取数据后,随机选择其中某一位取反,再返回给上层;

对比所述工作负载的输出和操作系统中与闪存文件系统有关的日志记录,确定闪存文件系统的可靠性。

6.如权利要求1~5中任一项所述的闪存文件系统可靠性分析方法,其特征在于,所述错误类型包括:暂时性错误和持久性错误两类,其中每一类都包括四种:读错误、读污染、写错误和擦除错误。

7.如权利要求1~5中任一项所述的闪存文件系统可靠性分析方法,其特征在于,所述工作负载包括:POSIX定义的接口测试样例和闪存文件系统测试模块中的测试样例stress_3。

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