[发明专利]一种量化检测透平叶片残余应力的方法有效
| 申请号: | 201110395333.5 | 申请日: | 2011-12-02 |
| 公开(公告)号: | CN102519866A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
| 发明(设计)人: | 刘新权;齐向华;苏化冰;黄玉亭;徐大懋 | 申请(专利权)人: | 无锡透平叶片有限公司 |
| 主分类号: | G01N19/00 | 分类号: | G01N19/00;G01L5/00 |
| 代理公司: | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 | 代理人: | 顾朝瑞 |
| 地址: | 214174 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 量化 检测 透平 叶片 残余 应力 方法 | ||
1.一种量化检测透平叶片残余应力的方法,其特征在于:其包括以下步骤:
(1)采用与待检测透平叶片相同材质的材料制作U型试块,所述U型试的两底板等厚、且两底板的各表面相互平行;
(2)取至少两个所述U型试块,一个为基准试块,一个为对照检测试块,对所述两个U型试块上底板同时施加相同的压应力,当所述两个U型试块的上、下底板的外侧角点O、O’之间的距离d均减小4mm后撤除该所述压应力;
(3)分别检测撤除所述压应力后、所述两个U型试块的上、下底板外侧角点O、O’之间的距离d1;
(4)将所述两个U型试块进行热保温处理;
(5)对所述基准试块采用随炉冷却的方式进行去应力处理,对所述对照检测试块采用待检测去应力方式进行去应力处理,然后分别检测所述基准试块和对照检测试块在去应力处理后所述上、下底板的外侧角点O、O’之间的距离d2;
(6)将步骤(5)中得到d2与步骤(3)中得到的d1相减得到去应力前后材料的变形量,其中所述基准试块的变形量为Δd,所述对照检测试块的变形量为Δd’;
(7)将基准试块的Δd与待检测试块的Δd’进行比较,若两者差值较小,则所述待检测去应力方式的去除残余应力的效果较好,反之则较差。
2.根据权利要求1所述的一种量化检测透平叶片残余应力的方法,其特征在于:当所述Δd’≥0.9Δd,则判断待检测去应力方法的去除残余应力效果较好,其透平叶片的残余应力分布等级为一级;当0.75Δd<Δd’<0.9Δd,则判断所述待检测去应力方法的去除残余应力效果一般,其透平叶片的残余应力分布等级为二级;当Δd’≤0.75Δd,则判断所述待检测去应力方法的去除残余应力效果较差,其透平叶片的残余应力分布等级为三级。
3.根据权利要求1所述的一种量化检测透平叶片残余应力的方法,其特征在于:所述待检测去应力方式可以是空冷、油冷、风冷、水冷、砂箱冷中的一种或几种。
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