[发明专利]在钻石基板上形成的磊晶层结构及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201110394657.7 申请日: 2011-12-02
公开(公告)号: CN103137801A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 李家铭;叶念慈;张翔思;吕元杰 申请(专利权)人: 泰谷光电科技股份有限公司
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/32;H01L33/00;H01S5/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 于辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 钻石 基板上 形成 磊晶层 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种在钻石基板上形成的多个磊晶层的结构,包括:

钻石基板;

界面层,其形成在该钻石基板一侧,该界面层具有多晶或非晶结构;

多个磊晶层,其形成该界面层上,该多个磊晶层依次包括缓冲层、n型半导体层、发光层、和p型半导体层,其中,该n型半导体层为部分暴露;

多个电极,该多个电极包括n型电极和p型电极,且该n型电极与该n型半导体层接触,而该p型电极与p型半导体层接触。

2.如权利要求1所述的结构,其中该钻石基板的厚度为大约5000微米以下。

3.如权利要求1所述的结构,其中该界面层的厚度为大约500纳米以下。

4.如权利要求1所述的结构,其中该界面层选自成核层或转换层。

5.如权利要求4所述的结构,其中该成核层由单层或多层氮化铝铟镓(AlxInyGa1-x-yN,其中0≤x≤1,0≤y≤1,0≤x+y≤1)所构成。

6.如权利要求5所述的结构,其中该成核层厚度为大约5至500纳米。

7.如权利要求4所述的结构,其中该转换层由薄膜或纳米结构的金属氧化物、非金属硅化物(SizAn,Si表示硅元素,A表示非金属元素,z与n表示原子比例)、或金属硅化物(MkSiz,M表示金属元素,Si表示硅元素,k与z表示原子比例)所构成,其中该金属氧化物包括氧化锌、氧化铟锡、氧化铟、或氧化锡等,而该非金属硅化物则包括氮化硅、氧化硅等。

8.如权利要求1所述的结构,其中该界面层经由选自涂布、磊晶、沉积、溅镀、蒸镀、电镀、或溶液离子交换键结等物理或化学方式形成。

9.一种在钻石基板上形成多个磊晶层的方法,包括:

提供钻石基板;

在该钻石基板一侧形成界面层,该界面层具有多晶或非晶结构;

在该界面层上形成多个磊晶层,该多个磊晶层依次包括缓冲层、n型半导体层、发光层、和p型半导体层;

进行蚀刻处理,以暴露部分该n型半导体层;和

设置多个电极,该多个电极包括n型电极和p型电极,且该n型电极与该n型半导体层接触,而该p型电极与p型半导体层接触。

10.如权利要求9所述的方法,其中该界面层由薄膜或纳米结构的金属氧化物、非金属硅化物(SizAn,Si表示硅元素,A表示非金属元素,z与n表示原子比例)、或金属硅化物(MkSiz,M表示金属元素,Si表示硅元素,k与z表示原子比例)所构成,其中该金属氧化物包括氧化锌、氧化铟锡、氧化铟、或氧化锡等,而该非金属硅化物则包括氮化硅、氧化硅等。

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