[发明专利]在钻石基板上形成的磊晶层结构及其制造方法无效
申请号: | 201110394657.7 | 申请日: | 2011-12-02 |
公开(公告)号: | CN103137801A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 李家铭;叶念慈;张翔思;吕元杰 | 申请(专利权)人: | 泰谷光电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02;H01L33/32;H01L33/00;H01S5/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 于辉 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 钻石 基板上 形成 磊晶层 结构 及其 制造 方法 | ||
1.一种在钻石基板上形成的多个磊晶层的结构,包括:
钻石基板;
界面层,其形成在该钻石基板一侧,该界面层具有多晶或非晶结构;
多个磊晶层,其形成该界面层上,该多个磊晶层依次包括缓冲层、n型半导体层、发光层、和p型半导体层,其中,该n型半导体层为部分暴露;
多个电极,该多个电极包括n型电极和p型电极,且该n型电极与该n型半导体层接触,而该p型电极与p型半导体层接触。
2.如权利要求1所述的结构,其中该钻石基板的厚度为大约5000微米以下。
3.如权利要求1所述的结构,其中该界面层的厚度为大约500纳米以下。
4.如权利要求1所述的结构,其中该界面层选自成核层或转换层。
5.如权利要求4所述的结构,其中该成核层由单层或多层氮化铝铟镓(AlxInyGa1-x-yN,其中0≤x≤1,0≤y≤1,0≤x+y≤1)所构成。
6.如权利要求5所述的结构,其中该成核层厚度为大约5至500纳米。
7.如权利要求4所述的结构,其中该转换层由薄膜或纳米结构的金属氧化物、非金属硅化物(SizAn,Si表示硅元素,A表示非金属元素,z与n表示原子比例)、或金属硅化物(MkSiz,M表示金属元素,Si表示硅元素,k与z表示原子比例)所构成,其中该金属氧化物包括氧化锌、氧化铟锡、氧化铟、或氧化锡等,而该非金属硅化物则包括氮化硅、氧化硅等。
8.如权利要求1所述的结构,其中该界面层经由选自涂布、磊晶、沉积、溅镀、蒸镀、电镀、或溶液离子交换键结等物理或化学方式形成。
9.一种在钻石基板上形成多个磊晶层的方法,包括:
提供钻石基板;
在该钻石基板一侧形成界面层,该界面层具有多晶或非晶结构;
在该界面层上形成多个磊晶层,该多个磊晶层依次包括缓冲层、n型半导体层、发光层、和p型半导体层;
进行蚀刻处理,以暴露部分该n型半导体层;和
设置多个电极,该多个电极包括n型电极和p型电极,且该n型电极与该n型半导体层接触,而该p型电极与p型半导体层接触。
10.如权利要求9所述的方法,其中该界面层由薄膜或纳米结构的金属氧化物、非金属硅化物(SizAn,Si表示硅元素,A表示非金属元素,z与n表示原子比例)、或金属硅化物(MkSiz,M表示金属元素,Si表示硅元素,k与z表示原子比例)所构成,其中该金属氧化物包括氧化锌、氧化铟锡、氧化铟、或氧化锡等,而该非金属硅化物则包括氮化硅、氧化硅等。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰谷光电科技股份有限公司,未经泰谷光电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110394657.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种钠硫电池陶瓷电解质管失效防护结构
- 下一篇:阀控密封式铅酸蓄电池