[发明专利]全站仪无棱镜测距的准确度评估装置及方法有效
| 申请号： | 201110393729.6 | 申请日： | 2011-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN102506902A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 胡鹤鸣;孟涛;王池;高峰;张亮 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 全站仪无 棱镜 测距 准确度 评估 装置 方法 | ||
1.一种用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估装置，其包括可旋转且具有刻度的第一固定平台和第二固定平台；位于第一固定平台上的第一定位部件和位于第二固定平台上的第二定位部件；以及对第一定位部件的定位点与第二定位部件的定位点之间的距离进行测量的长度测量工具；其特征在于：所述全站仪与所述第一定位部件、所述第二定位部件呈三角形分布，通过所述全站仪测量第一定位部件与第二定位部件的定位点的坐标。
2.如权利要求1所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估装置，其特征在于：在第一定位部件以及第二定位部件的端面上贴有待测材料，或所述第一定位部件和第二定位部件由待测材料加工而成。
3.如权利要求1所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估装置，其特征在于：所述全站仪与第一定位部件、第二定位部件在同一水平高度。
4.如权利要求1所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估装置，其特征在于：所述第一固定平台和所述第二固定平台设置在同一个具有刻度的滑轨上。
5.如权利要求1所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估装置，其特征在于：所述第一定位部件和第二定位部件为圆柱体，在圆柱体的一侧端面圆中心具有十字标记的定位点。
6.一种用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估方法，其采用如权利要求1-5任一项所述的评估装置，其特征在于：利用长度测量工具测量第一定位部件与第二定位部件的定位点之间的第一距离；通过全站仪测量第一定位部件与第二定位部件的坐标，计算所述第一定位部件与第二定位部件的定位点之间的第二距离；通过第一距离与第二距离的比较获得全站仪测量准确度数据。
7.如权利要求6所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估方法，其特征在于：所述第一距离为多次测量的平均值。
8.如权利要求6所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估方法，其特征在于：通过更换第一定位部件和第二定位部件上的待测材料、或更换第一定位部件和第二定位部件，对不同材料条件下的全站仪的测量准确度进行分析。
9.如权利要求6所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估方法，其特征在于：通过转动第一定位部件和第二定位部件，获得不同入射角条件下的全站仪的测量准确度数据。
10.如权利要求6所述的用于全站仪无棱镜测距模式的测量准确度评估方法，其特征在于：通过调整全站仪与两定位部件连线中心点距离，获得不同入射距离条件下的全站仪的测量准确度数据。
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