[发明专利]创建识别材料的函数曲线的方法和装置

权利要求书

1.一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的方法，包括步骤：

使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用，并探测得到穿透值；

匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值，即计算两种能量下的透明度之间的比值；

按照不同材料分组，根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线，作为识别材料的函数曲线。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述直接辐射和所述散射辐射由同一辐射源产生。

3.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述辐射源为X光机、放射性同位素或粒子加速器。

4.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述直接辐射和所述散射辐射的发射路径相同或者是同一辐射的两个部分。

5.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述直接辐射和所述散射辐射的发射路径成一角度。

6.如权利要求1所述的方法，其中，所述的前向散射辐射与所述直接辐射的发射路径平行。

7.如权利要求1所述的方法，其中，所述的散射体由低Z材料构成。

8.如权利要求7所述的方法，其中所述低Z材料包括C、B和有机材料的至少之一。

9.如权利要求1所述的方法，其中，在所述第一辐射与探测器之间设置至少一个准直系统。

10.如权利要求1所述的方法，其中，在所述散射体与探测器之间设置至少一个准直系统。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述的准直系统是一放射状的扇形准直器。

12.如权利要求10或11所述的方法，其中，所述的准直系统使得散射体产生的前向散射成一扇面后，与被检物体相互作用。

13.如权利要求10所述的方法，其中，所述的准直系统紧挨着探测器系统而设置。

14.如权利要求10或13所述的方法，其中，所述的准直系统为具有一系列通孔的准直孔，每一个探测器前设置有一准直孔。

15.如权利要求14所述的方法，其中，所述的准直孔放置于以散射体中心为圆心的弧线上。

16.如权利要求1所述的方法，其中，所述的辐射源是双靶粒子加速器。

17.如权利要求16所述的方法，其中，所述的双靶粒子加速器利用粒子偏转系统使加速的粒子产生偏转，以轰击双靶至少之一。

18.如权利要求16所述的方法，其中，所述的双靶如下设置：在垂直于被检物体运动方向上的位置有偏差。

19.如权利要求18所述的方法，其中，给偏转方向的靶加上散射体，以及散射体的中心与未偏转方向的靶在垂直于被检物体运动方向上对齐。

20.如权利要求1所述的方法，其中，所述的对前向散射辐射的探测采用的是高灵敏度的探测器晶体。

21.如权利要求1所述的方法，其中，所述的识别物质材料属性的步骤包括：

分别计算第一辐射和散射辐射对同一体素的衰减值。

22.如权利要求21所述的方法，还包括根据两个平行辐射间的距离对同一体素衰减值的匹配过程。

23.如权利要求21所述的方法，其中，所述的物质材料属性是指该物体中所含物质的等效原子序数。

24.如权利要求21所述的方法，其中，所述的识别材料的步骤包括：

利用预先对已知材料属性的物质进行采样，并通过采样点拟合得到用于识别未知材料属性的区分函数。

25.如权利要求1所述的方法，其中所述预定角度小于15度。

26.一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的装置，包括：

使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用，并探测得到穿透值的装置；

匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值，即计算两种能量下的透明度之间的比值的装置；

按照不同材料分组，根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线，作为识别材料的函数曲线的装置。