[发明专利]一种沟槽型绝缘栅场效应管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110388408.7 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN103137690B 公开(公告)日: 2016-10-26
发明(设计)人: 王邦麟;王雷;王海军 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10;H01L21/336
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 沟槽 绝缘 场效应 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种沟槽型绝缘栅场效应管,包括P型注入区上方形成有N型外延层,N型外延层上方形成有多个P阱和沟槽,各P阱通过多沟槽彼此隔离;每个P阱的顶部形成有N型有源区和P型有源区,所述P型有源区将N型有源区隔离成两部分,所述N型有源区与沟槽相邻,所述沟槽内具有栅氧化层和多晶硅栅,所述栅氧化层位于多晶硅栅两侧和下方;其特征是:所述多晶硅栅底部中间位置向多晶硅栅顶部凹陷。

2.一种沟槽型绝缘栅场效应管的制造方法,其特征是,包括:

(1)在硅衬底上制作P型注入区,P型注入区上方制作N型外延层,刻蚀沟槽,注入形成P阱,生长氧化硅;

(2)淀积氮化硅;

(3)刻蚀去除部分氮化硅;

(4)刻蚀去除部分氧化硅;

(5)再次生长氧化硅,形成栅氧化层;

(6)去除氮化硅;

(7)在沟槽内淀积多晶硅,形成多晶硅栅;

(8)刻蚀,注入形成N型有源区,注入形成P型有源区。

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