[发明专利]CMOS低噪声放大电路无效
| 申请号: | 201110386665.7 | 申请日: | 2011-11-29 |
| 公开(公告)号: | CN102457233A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
| 发明(设计)人: | 舒应超;赵吉祥 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
| 主分类号: | H03F1/26 | 分类号: | H03F1/26;H03F3/45 |
| 代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
| 地址: | 310018 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | cmos 噪声 放大 电路 | ||
1.一种CMOS低噪声放大电路,包括差分放大结构输入匹配结构和输出匹配结构,所述输入匹配结构和输出匹配结构分别连接差分放大结构的输入端和输出端,其特征在于,还包括负电容补偿结构,所述负电容补偿结构与所述差分放大结构连接。
2.根据权利要求1所述的CMOS低噪声放大电路,其特征在于,所述差分放大结构包括第一共源共栅放大结构和第二共源共栅放大结构,所述第一共源共栅放大结构包括MOS管M1和MOS管M2,所述第二共源共栅放大结构包括MOS管M5和MOS管M6,MOS管M1和MOS管M5具有相同的沟道长度和宽度,MOS管M2和MOS管M6具有相同的沟道长度和宽度,所述MOS管M1的漏极和MOS管M2的源极连接,所述MOS管M5和漏极和MOS管M6的源极连接,所述MOS管M2和MOS管M6的栅极都连接VDD,所述MOS管M1和MOS管M5得栅极为所述差分放大结构的输入端,所述MOS管M2和MOS管M6的漏极为所述差分放大结构的输出端,所述MOS管M1和MOS管M5的源极都接地。
3.根据权利要求2所述的CMOS低噪声放大电路,其特征在于,所述负电容补偿结构包括MOS管M3、MOS管M4、电容C5、第一电流源和第二电流源,MOS管M3和MOS管M4具有相同的沟道长度和宽度,所述MOS管M3的栅极连接所述MOS管M4的漏极并与MOS管M5的漏极连接,所述MOS管M3的漏极连接所述MOS管M4的源极并与MOS管M1的漏极连接,所述电容C5跨接在所述MOS管M3和所述MOS管M4的源极之间,所述MOS管M3的源极通过第一电流源接地,所述MOS管M4的源极通过第二电流源接地。
4.根据权利要求2或3所述的CMOS低噪声放大电路,其特征在于,所述输入匹配结构包括电容C3、电容C4、电感L3和电感L4,所述电容C3和电感L3串联后串接在MOS管M1的栅极上,所述电容C4和电感L5串联后串接在MOS管M5的栅极上。
5.根据权利要求2或3所述的CMOS低噪声放大电路,其特征在于,所述输出匹配结构包括电感L1、电感L2、电阻R1、电阻R2、电容C11、电容C12、电容C21、电容C22;所述电阻R1和电感L1并联以后串接在MOS管M2的漏极和VDD之间;所述电阻R2和电感L2并联以后串接在MOS管M6的漏极和VDD之间;所述电容C11一端连接MOS管M2的漏极,另一端接地;所述电容C12一端连接MOS管M6的漏极,另一端接地;所述电容C21串接在MOS管M2的漏极和输出端之间,所述电容C22串接在MOS管M6的漏极和输出端之间。
6.根据权利要求2所述的CMOS低噪声放大电路,其特征在于,所述MOS管M1的源极通过电感L5接地,所述MOS管M5的源极通过电感L6接地。
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