[发明专利]测试连接器、传输线、测试系统及一种使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示领域，更具体的说，涉及一种测试连接器、传输线、测试系统及一种使用方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器，即TFT LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。其主要工作原理：通过适当的电压加载在阵列(Array)玻璃基板与彩色滤光(CF)玻璃基板结合的液晶层间，使液晶分子在电压作用下发生偏转，通过不同电压控制得到不同的穿透率，从而实现了显示。

在TFT LCD厂内，经常需要对产品进行测试，此时需要通过低压差分信号传输(LVDS)线来连接产品与信号源。现有技术中，低压差分信号传输(LVDS)线一端接头直接插入产品待检测的PCB板，另一端插入型号源。在更换测试样品时需要将插入PCB的接头拔下重新插入新样品中。由于每天进行的测试量巨大，因而需要频繁插拔低压差分信号传输(LVDS)线，这导致了低压差分信号传输(LVDS)线经常由于接头损坏而作废。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种可延长低压差分信号传输(LVDS)线使用寿命的测试连接器、传输线、测试系统及一种使用方法。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种低压差分信号传输线的测试连接器，所述测试连接器包括与低压差分信号传输线匹配的信号线接口，以及跟待检测的PCB板匹配的PCB接口，所述信号线接口与PCB接口之间电气连接。

优选的，所述PCB接口两端设有通孔。通孔可以方便机械化操作，机械手可以卡住两侧通孔进行测试连接器的拔插。

优选的，所述PCB接口中部设有凸缘，所述凸缘延伸到长度跟所述测试连接器与待检测的PCB板连接的针脚的高度一致。凸缘可以环绕保护内部的插针，避免外部杂物污染插针，造成接触不良或短路；凸缘延伸到长度跟所述测试连接器与待检测的PCB板连接的针脚的高度一致，可以在测试连接器与待检测的PCB板完全连接后，利用凸缘以及凸缘两侧的PCB接口端面进行定位。

优选的，所述信号线接口设有容纳所述低压差分信号传输线的凹槽，所述凹槽两侧设有定位凸包，当压差分信号传输线的接头嵌入凹槽后，凸包可以抵住接头，防止意外脱落，同时也保证接触强度，提升信号连接的可靠性。。

一种低压差分信号传输线，所述低压差分信号传输线的接头处连接有上述的一种低压差分信号传输线的测试连接器。

一种低压差分信号测试系统，包括上述的一种低压差分信号传输线。

优选的，所述低压差分信号测试系统包括电源，低压差分信号传输线跟接头相对的另一端设有接口，所述电源和所述低压差分信号之间通过接口连接。通过接口连接，方便拆卸。

一种低压差分信号传输线的使用方法，包括以下步骤：

A：检测低压差分信号传输线的测试连接器的PCB接口是否正常；如果正常，将所述PCB接口与待检测的PCB板连接，开始正常检测；如果异常，转步骤B；

B：将低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口从低压差分信号传输线上拆卸下来；将新的低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口连接到低压差分信号传输线，转步骤A。

本发明通过发明人研究发现，在现有技术中，低压差分信号传输(LVDS)线接头直接插入待检测的PCB板。由于每更换一枚测试样品，就需要插拔一次低压差分信号传输(LVDS)线，容易导致低压差分信号传输(LVDS)线接头损坏。一旦低压差分信号传输(LVDS)接头损坏，LVDS线也将作废。本发明将插拔对象由低压差分信号传输(LVDS)接头转变成为测试连接器，发生损坏时只需更换测试连接器即可，大大延长了低压差分信号传输(LVDS)线的使用寿命。由于测试连接器成本仅为LVDS线的10％不到，因此可减少损耗带来的成本。

附图说明

图1是本发明低压差分信号测试系统示意图；

图2是本发明测试连接器示意图；

其中：1、待检测的PCB板；2、测试连接器；3、接头；4、线材；5、接口；6、电源。7、信号线接口；8、PCB接口；81、通孔；82、凸缘。

具体实施方式

下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。