[发明专利]一种电路仿真业务测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及通信技术领域，特别涉及一种电路仿真业务测试方法及系统。

背景技术

通道化ETH接口在测试时，一般都是通过测试通道化ETH接口的N路E1/T1中的某一路E1/T1业务口实现接口误码性能测试的，但由于物理走线、时钟发送等不同，通道化ETH接口的N路E1/T1业务口的每路E1/T1都有各自的特性，只测试其中一路或几路并不能代表通道化ETH接口的N路E1/T1M路通路的误码性能，不能表示通道化ETH接口的N路E1/T1业务口M路通路都可以正常收发包，所以在严格测试要求下应该是通道化ETH接口的N路E1/T1业务口都测试。

参见图1，图1为现有技术中电路仿真业务测试系统结构示意图。图1中被测设备101每路E1/T1业务口都连接一个误码测试仪102分别进行测试。

现有实现中每路测试一般要求24小时不丢包，N路E1/T1业务口都测完需要大量的时间，这就需要大量的人力和物力。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种电路仿真业务测试方法及系统。能够实现多路E1/T1业务口的同时测试，节省了测试资源。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是这样实现的：

一种电路仿真业务测试方法，根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值N，所述方法包括：

被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式，其中，M不大于N，M和N为整数；

被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口；

误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。

其中，所述根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数N的方法：

根据链路中的时延不大于链路最大时延确定第一串联路数N1，根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定第二串联路数N2，E1/T1业务口串联路数N不大于N1和N2中的较小值，N1和N2为整数。

所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。

所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。

所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联为：被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。

一种电路仿真业务测试系统，所述系统包括：被测设备和误码测试仪；

所述被测设备，用于将被测设备线路侧的ETH接口上的每路E1/T1业务与被测设备支路侧的M路E1/T1业务建立一一对应关系并采用一致的封包格式；将被测设备支路侧的M路E1/T1业务口串联，形成M路E1/T1业务口串联测试通道并连接误码测试仪，被测设备线路侧的ETH接口对接被测设备支路侧的ETH接口；其中，M不大于N，N为根据链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口串联路数最大值，N和M为整数；

所述误码测试仪通过M路E1/T1业务口串联测试通道对被测设备的ETH接口的M路E1/T1业务口同时进行测试。

其中，所述E1/T1业务口串联路数N不大于第一串联路数N1和第二串联路数N2中的较小值，其中，第一串联路数N1根据链路中的时延不大于链路最大时延确定，第二串联路数N2根据链路总带宽不大于上联ETH带宽确定，N1和N2为整数。

所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口顺序串联。

所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口双向串联。

所述被测设备支路侧的M路E1/T1业务口单向串联。

综上所述，本发明通过链路中的最大时延，以及上联ETH带宽确定E1/T1业务口最大串联路数N，并对ETH接口上不大于N路EI/TI口进行串联，能够实现多路E1/T1业务口的同时测试，节省了测试资源。

附图说明

图1为现有技术中电路仿真业务测试系统结构示意图；

图2为本发明实施例中电路仿真业务测试流程示意图；

图3为本发明具体实施例中当M＝N时第一种串联方式电路仿真业务测试结构示意图；

图4为本发明具体实施例中当M＝N时第二种串联方式电路仿真业务测试结构示意图；